固体表面における動的過程の研究 : 極高真空技術への応用
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Author
Bibliographic Information
- Title
-
固体表面における動的過程の研究 : 極高真空技術への応用
- Author
-
藤田, 大介
- Author(Another name)
-
フジタ, ダイスケ
- University
-
東京大学
- Types of degree
-
博士 (工学)
- Grant ID
-
乙第10165号
- Degree year
-
1991-04-11
Note and Description
博士論文
Table of Contents
- 目次 / p2 (0003.jp2)
- 第1章 緒言 / p5 (0006.jp2)
- §1-1 はじめに / p5 (0006.jp2)
- §1-2 本論文の構成 / p7 (0008.jp2)
- 第2章 電子分光法による固体表面の組成定量評価 / p9 (0010.jp2)
- §2-1 序論 / p9 (0010.jp2)
- §2-2 オージェ電子分光法の基礎 / p12 (0013.jp2)
- §2-3 AES定量化の基礎 / p16 (0017.jp2)
- §2-4 定量化のための新しい標準試料 / p23 (0024.jp2)
- §2-5 結言 / p59 (0060.jp2)
- 文献 / p61 (0062.jp2)
- 第3章 電子エネルギー損失微細構造法による表層構造解析 / p65 (0066.jp2)
- §3-1 序論 / p65 (0066.jp2)
- §3-2 SEELFSと関連するこれまでの研究 / p67 (0068.jp2)
- §3-3 理論 / p69 (0070.jp2)
- §3-4 SEELFSによる表層構造解析の構成 / p78 (0079.jp2)
- §3-5 前方散乱測定の必要性 / p94 (0095.jp2)
- §3-6 結言 / p100 (0101.jp2)
- 文献 / p102 (0103.jp2)
- 第4章 昇温脱離法による固体表面の吸着･脱離過程の研究 / p105 (0106.jp2)
- §4-1 序論 / p105 (0106.jp2)
- §4-2 昇温脱離法の理論 / p107 (0108.jp2)
- §4-3 TDS測定の方法 / p119 (0120.jp2)
- §4-4 TDS法の応用 / p131 (0132.jp2)
- §4-5 結言 / p155 (0156.jp2)
- 文献 / p156 (0157.jp2)
- 第5章 表面偏析･表面析出現象とその真空工学への応用 / p159 (0160.jp2)
- §5-1 序論 / p159 (0160.jp2)
- §5-2 Fe(lOO)表面上の不純物Sの偏析-初期酸化に及ぼす影響- / p161 (0162.jp2)
- §5-3 h-BNの表面析出過程とその極高真空への応用 / p173 (0174.jp2)
- §5-4 C固溶Niにおけるグラファイトの表面析出とその極高真空への応用 / p207 (0208.jp2)
- §5-5 結言 / p243 (0244.jp2)
- 文献 / p244 (0245.jp2)
- 第6章 超高真空中におけるガス放出過程と極高真空の発生 / p247 (0248.jp2)
- §6-1 序論 / p247 (0248.jp2)
- §6-2 ガス放出速度の測定装置の構成 / p249 (0250.jp2)
- §6-3 種々の材料からのガス放出速度の測定 / p255 (0256.jp2)
- §6-4 極高真空の発生 / p272 (0273.jp2)
- §6-5 結言 / p277 (0278.jp2)
- 文献 / p279 (0280.jp2)
- 第7章 結言 / p281 (0282.jp2)
- 謝辞 / p286 (0287.jp2)
- 関連する論文 / p287 (0288.jp2)