走査型トンネル顕微鏡及び分光法による吸着物質の測定

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著者

    • 水谷, 亘, 1960- ミズタニ, ワタル

書誌事項

タイトル

走査型トンネル顕微鏡及び分光法による吸着物質の測定

著者名

水谷, 亘, 1960-

著者別名

ミズタニ, ワタル

学位授与大学

東京大学

取得学位

博士 (理学)

学位授与番号

乙第10215号

学位授与年月日

1991-05-27

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / (0004.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0005.jp2)
  3. 1.1 はじめに / p1 (0005.jp2)
  4. 1.2 STM/STSの原理 / p4 (0007.jp2)
  5. 1.3 吸着物質のSTM/STS測定の経緯と目標 / p8 (0009.jp2)
  6. 1.4 本論文の構成と概要 / p9 (0009.jp2)
  7. 1.5 第1章のまとめ / p10 (0010.jp2)
  8. 第1章の文献 / p11 (0010.jp2)
  9. 表・図の説明 / p13 (0011.jp2)
  10. 第2章 STM/STS技術の開発 / p20 (0018.jp2)
  11. 2.1 はじめに / p20 (0018.jp2)
  12. 2.2 機械要素 / p20 (0018.jp2)
  13. 2.3 電気回路 / p28 (0022.jp2)
  14. 2.4 データ処理・表示技術 / p36 (0026.jp2)
  15. 2.5 第2章のまとめ / p40 (0028.jp2)
  16. 第2章の文献 / p42 (0029.jp2)
  17. 表・図の説明 / p44 (0030.jp2)
  18. 第3章 吸着物質のSTM/STSによる測定 / p71 (0056.jp2)
  19. 3.1 はじめに / p71 (0056.jp2)
  20. 3.2 基板 / p72 (0057.jp2)
  21. 3.3 LB膜 / p75 (0058.jp2)
  22. 3.4 ポリリン酸 / p77 (0059.jp2)
  23. 3.5 銅フタロシアニン蒸着薄膜 / p78 (0060.jp2)
  24. 3.6 液晶 / p80 (0061.jp2)
  25. 3.7 第3章のまとめ / p87 (0064.jp2)
  26. 第3章の文献 / p90 (0066.jp2)
  27. 図の説明 / p92 (0067.jp2)
  28. 第4章 吸着物質のSTMイメージング機構のモデル / p123 (0095.jp2)
  29. 4.1 はじめに / p123 (0095.jp2)
  30. 4.2 共鳴トンネルモデル / p124 (0096.jp2)
  31. 4.3 共鳴トンネルモデルの検討 / p125 (0096.jp2)
  32. 4.4 液晶のSTM像のバイアス電圧依存性の実験の解釈 / p130 (0099.jp2)
  33. 4.5 探針・基板間の電場の吸着物質に与える影響 / p133 (0100.jp2)
  34. 4.6 第4章のまとめ / p135 (0101.jp2)
  35. 第4章の文献 / p137 (0102.jp2)
  36. 表・図の説明 / p139 (0103.jp2)
  37. 第5章 結論 / p150 (0113.jp2)
  38. 謝辞 / p155 (0116.jp2)
  39. 付録 / p156 (0116.jp2)
  40. 付録の文献 / p168 (0122.jp2)
  41. 図の説明 / p169 (0123.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000097859
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000965377
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000262173
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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