工業用画像認識手法に関する研究

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著者

    • 依田, 晴夫 ヨダ, ハルオ

書誌事項

タイトル

工業用画像認識手法に関する研究

著者名

依田, 晴夫

著者別名

ヨダ, ハルオ

学位授与大学

東京大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

乙第10335号

学位授与年月日

1991-09-18

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / p1 (0005.jp2)
  2. 第1章 序章 / p9 (0009.jp2)
  3. 1.1.本研究の目的 / p9 (0009.jp2)
  4. 1.2.画像認識研究の流れの中での工業用画像処理 / p13 (0011.jp2)
  5. 1.3.工業用画像処理の流れの中での本研究の位置付け / p19 (0014.jp2)
  6. 1.4.本研究の概要 / p27 (0018.jp2)
  7. 第2章 画像間相関を用いた画像認識 / p31 (0020.jp2)
  8. 2.1.緒言 / p31 (0020.jp2)
  9. 2.2.回転形パターンマッチング法 / p31 (0020.jp2)
  10. 2.3.形状選別装置 / p42 (0026.jp2)
  11. 2.4.結言 / p45 (0027.jp2)
  12. 第3章 局所頻度分布を用いた画像認識 / p46 (0028.jp2)
  13. 3.1.緒言 / p46 (0028.jp2)
  14. 3.2.方向コード法 / p46 (0028.jp2)
  15. 3.3.直方体形状物体の認識 / p48 (0029.jp2)
  16. 3.4.移動物体の認識 / p76 (0043.jp2)
  17. 3.5.結言 / p96 (0053.jp2)
  18. 第4章 パイプライン形式による超高速画像処理 / p97 (0053.jp2)
  19. 4.1.緒言 / p97 (0053.jp2)
  20. 4.2.パイプライン形画像処理の基本演算 / p98 (0054.jp2)
  21. 4.3.ビデオレート1パス形形状計測法 / p108 (0059.jp2)
  22. 4.4.図形領域変形を伴う簡易形形状計測法 / p135 (0072.jp2)
  23. 4.5.結言 / p144 (0077.jp2)
  24. 第5章 設計パターン参照を特徴とする複雑多層パターン外観検査 / p146 (0078.jp2)
  25. 5.1.緒言 / p146 (0078.jp2)
  26. 5.2.設計パターン参照方式の基本原理 / p148 (0079.jp2)
  27. 5.3.ICウェハパターン外観検査装置 / p159 (0084.jp2)
  28. 5.4.VLSIウェハパターン外観検査装置 / p196 (0103.jp2)
  29. 5.5.結言 / p220 (0115.jp2)
  30. 第6章 結論 / p221 (0115.jp2)
  31. 6.1.本論文のまとめ / p221 (0115.jp2)
  32. 6.2.本研究の効果 / p222 (0116.jp2)
  33. 第7章 謝辞 / p225 (0117.jp2)
  34. 第8章 参考文献 / p228 (0119.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000097979
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000098208
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000262293
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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