集束イオンビーム注入により作製したGaAs/AlGaAs量子細線における電気伝導現象の研究

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著者

    • 小田切, 貴秀 オダギリ, タカヒデ

書誌事項

タイトル

集束イオンビーム注入により作製したGaAs/AlGaAs量子細線における電気伝導現象の研究

著者名

小田切, 貴秀

著者別名

オダギリ, タカヒデ

学位授与大学

東京大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第9220号

学位授与年月日

1991-09-18

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / (0003.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0006.jp2)
  3. 1-1 本研究の背景 / p1 (0006.jp2)
  4. 1-2 本研究の目的 / p7 (0012.jp2)
  5. 1-3 本論文の構成 / p8 (0013.jp2)
  6. 参考文献 / p10 (0015.jp2)
  7. 第2章 A1GaAs/GaAs量子細線トランジスタ / p12 (0017.jp2)
  8. 2-1 緒言 / p12 (0017.jp2)
  9. 2-2 A1GaAs/GaAs量子細線トランジスタの作製プロセス / p12 (0017.jp2)
  10. 2-3 A1GaAs/GaAs量子細線トランジスタの電気特性 / p13 (0018.jp2)
  11. 2-4 A1GaAs/GaAs量子細線トランジスタの一次元サブバンドの影響 / p26 (0031.jp2)
  12. 2-5 結論 / p30 (0035.jp2)
  13. 参考文献 / p31 (0036.jp2)
  14. 第3章 AlGaAs/GaAs量子細線中の電子散乱 / p33 (0038.jp2)
  15. 3-1 緒言 / p33 (0038.jp2)
  16. 3-2 試料の作製と構造 / p34 (0039.jp2)
  17. 3-3 シュブニコフ・ドハース効果によるA1GaAs/GaAs擬1次元及び2次元構造における移動度のキャリア密度依存性 / p35 (0040.jp2)
  18. 3-4 細線中における移動度のキャリア密度依存性 / p39 (0044.jp2)
  19. 3-5 キャリア密度の揺らぎによる移動度の変化 / p47 (0052.jp2)
  20. 3-6 結論 / p53 (0058.jp2)
  21. 参考文献 / p54 (0059.jp2)
  22. 第4章 GaAs量子細線中の電子波の位相緩和時間と境界の影響 / p56 (0061.jp2)
  23. 4-1 緒言 / p56 (0061.jp2)
  24. 4-2 金属中の弱局在の理論(A.A理論)と高移動度半導体への応用 / p57 (0062.jp2)
  25. 4-3 量子細線の作製法 / p66 (0071.jp2)
  26. 4-4 n⁺型GaAs量子細線の作製と弱局在による位相緩和長の測定 / p66 (0071.jp2)
  27. 4-5 比較的移動度の低いn型A1GaAs/GaAs量子細線の作製と弱局在による位相緩和長の測定 / p71 (0076.jp2)
  28. 4-6 高移動度n型A1GaAs/GaAs量子細線の磁気抵抗 / p78 (0083.jp2)
  29. 4-7 p型A1GaAs/GaAs量子細線の磁気抵抗 / p78 (0083.jp2)
  30. 4-8 結論 / p85 (0090.jp2)
  31. 参考文献 / p86 (0091.jp2)
  32. 第5章 n型A1GaAs/GaAs細線中の位相緩和メカニズム / p87 (0092.jp2)
  33. 5-1 緒言 / p87 (0092.jp2)
  34. 5-2 位相緩和機構の温度依存性 / p87 (0092.jp2)
  35. 5-3 極低温における位相緩和時間の飽和の原因 / p100 (0105.jp2)
  36. 5-4 A1GaAs/GaAs量子細線の位相緩和時間におけるフェルミエネルギー依存性 / p110 (0115.jp2)
  37. 5-5 A1GaAs/GaAs量子細線の位相緩和時間のホットエレクトロンによる影響 / p113 (0118.jp2)
  38. 5-6 結論 / p121 (0126.jp2)
  39. 参考文献 / p122 (0127.jp2)
  40. 第6章 結論 / p124 (0129.jp2)
  41. 謝辞 / p128 (0133.jp2)
  42. 研究業績 / p129 (0134.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000098336
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000098565
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000262650
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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