低速電子回折によるSi(111)-Al表面の構造解析

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著者

    • 西片, 一昭 ニシカタ, カズアキ

書誌事項

タイトル

低速電子回折によるSi(111)-Al表面の構造解析

著者名

西片, 一昭

著者別名

ニシカタ, カズアキ

学位授与大学

東京大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第9492号

学位授与年月日

1992-03-30

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / (0003.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0005.jp2)
  3. 1.1 表面構造決定の重要性 / p1 (0005.jp2)
  4. 1.2 本研究の背景 / p2 (0006.jp2)
  5. 1.3 本研究の目的と内容 / p4 (0008.jp2)
  6. 第2章 低速電子回折の動力学的理論 / p6 (0010.jp2)
  7. 2.1 低速電子回折 / p6 (0010.jp2)
  8. 2.2 結晶内の低速電子 / p8 (0012.jp2)
  9. 2.3 原子散乱 / p11 (0015.jp2)
  10. 2.4 球面波による多重散乱の取り扱い / p14 (0018.jp2)
  11. 2.5 複数の面を持つ層からの回折 / p21 (0025.jp2)
  12. 2.6 多重散乱の摂動法 / p25 (0029.jp2)
  13. 第3章 表面構造解析の原理とプログラム開発 / p27 (0031.jp2)
  14. 3.1 IV曲線による表面構造解析 / p27 (0031.jp2)
  15. 3.2 厳密な動力学的解析の原理とプログラム開発 / p30 (0034.jp2)
  16. 3.3 テンソル法の理論 / p34 (0038.jp2)
  17. 3.4 テンソル法による構造解析の原理とプログラム開発 / p38 (0042.jp2)
  18. 第4章 回折強度迅速測定装置の開発 / p41 (0045.jp2)
  19. 4.1 強度測定の方法の検討 / p41 (0045.jp2)
  20. 4.2 光学系 / p42 (0046.jp2)
  21. 4.3 強度測定系 / p49 (0053.jp2)
  22. 第5章 A1/Si(111)の実験結果 / p54 (0058.jp2)
  23. 5.1 実験系 / p54 (0058.jp2)
  24. 5.2 実験結果と考察 / p60 (0064.jp2)
  25. 第6章 Si(111)[化学式]相の構造解析 / p69 (0073.jp2)
  26. 6.1 構造模型 / p69 (0073.jp2)
  27. 6.2 解析結果と考察 / p74 (0078.jp2)
  28. 第7章 Si(111)[化学式]相の構造解析 / p83 (0087.jp2)
  29. 7.1 構造模型 / p83 (0087.jp2)
  30. 7.2 解析結果と考察 / p88 (0092.jp2)
  31. 第8章 研究の総括と今後の課題 / p109 (0113.jp2)
  32. 参考文献 / p111 (0115.jp2)
  33. 謝辞 / p113 (0117.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000098608
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000098837
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000262922
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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