半導体超格子構造の研究

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著者

    • 津田, 統 ツダ, オサム

書誌事項

タイトル

半導体超格子構造の研究

著者名

津田, 統

著者別名

ツダ, オサム

学位授与大学

東京大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第9513号

学位授与年月日

1992-03-30

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / (0003.jp2)
  2. 第1章 序論 / (0005.jp2)
  3. 第1章の参考文献 / p11 (0016.jp2)
  4. 第2章 X線回折測定による成長中断の評価 / (0017.jp2)
  5. 2-1 緒言 / p12 (0018.jp2)
  6. 2-2 超格子からのX線回折 / p18 (0024.jp2)
  7. 2-3 試料作製 / p24 (0030.jp2)
  8. 2-4 X線回折測定 / p30 (0036.jp2)
  9. 2-5 計算機シミュレーション / p40 (0046.jp2)
  10. 2-6 考察 / p69 (0075.jp2)
  11. 2-7 結論 / p81 (0088.jp2)
  12. 第2章の参考文献 / p82 (0089.jp2)
  13. 第3章 off-Bragg条件下のX線回折測定によるヘテロ構造の評価 / (0091.jp2)
  14. 3-1 緒言 / p84 (0092.jp2)
  15. 3-2 試料作成 / p91 (0099.jp2)
  16. 3-3 off-Bragg条件下のX線回折 / p97 (0105.jp2)
  17. 3-4 回折パターンのシミュレーション / p102 (0110.jp2)
  18. 3-5 Mo管球をX線源に用いたoff-Bragg条件X線回折測定 / p113 (0121.jp2)
  19. 3-6 シンクロトロン放射光(SOR光)を光源としたX線異常散乱を用いたoff-Bragg条件下の回折測定 / p120 (0128.jp2)
  20. 3-7 III-V族化合族半導体ヘテロ構造への応用 / p136 (0144.jp2)
  21. 3-8 結論 / p140 (0148.jp2)
  22. 第3章の参考文献 / p142 (0150.jp2)
  23. 第4章 結論 / (0153.jp2)
  24. 第4章の参考文献 / p153 (0162.jp2)
  25. APPENDIX / (0163.jp2)
  26. 謝辞 / (0164.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000098629
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000098858
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000262943
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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