A study of charged D[*] production in e[+]e[-] annihilation at TRISTAN トリスタンにおける電子-陽電子消滅反応による荷電D[*]生成の研究

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著者

    • 日出, 富士雄 ヒノデ, フジオ

書誌事項

タイトル

A study of charged D[*] production in e[+]e[-] annihilation at TRISTAN

タイトル別名

トリスタンにおける電子-陽電子消滅反応による荷電D[*]生成の研究

著者名

日出, 富士雄

著者別名

ヒノデ, フジオ

学位授与大学

東京都立大学

取得学位

博士 (理学)

学位授与番号

甲第307号

学位授与年月日

1993-03-25

注記・抄録

博士論文

目次

  1. Contents / p3 (0005.jp2)
  2. 1 Introduction / p1 (0008.jp2)
  3. 2 Theoretical framework / p5 (0010.jp2)
  4. 2.1 Standard Model / p5 (0010.jp2)
  5. 2.2 Production of Charged D* Meson / p8 (0012.jp2)
  6. 2.3 Monte Carlo Simulation / p12 (0014.jp2)
  7. 3 Experimental Apparatus / p16 (0016.jp2)
  8. 3.1 TRISTAN / p16 (0016.jp2)
  9. 3.2 VENUS / p21 (0018.jp2)
  10. 4 Event Reconstruction and Data Reduction / p41 (0028.jp2)
  11. 4.1 Event Reconstruction / p41 (0028.jp2)
  12. 4.2 Data Reduction / p45 (0030.jp2)
  13. 4.3 Luminosity Measurement / p49 (0032.jp2)
  14. 5 Measurement of Production Cross Section / p54 (0035.jp2)
  15. 5.1 Tagging of D*±Meson / p54 (0035.jp2)
  16. 5.2 Measurement of Production Cross Section / p68 (0042.jp2)
  17. 5.3 Measurement of Fragmentation Function / p71 (0043.jp2)
  18. 6 Measurement of Charge Asymmetry / p74 (0045.jp2)
  19. 6.1 Mass Difference Method / p74 (0045.jp2)
  20. 6.2 Soft Pion Method / p78 (0047.jp2)
  21. 7 Conclusion / p79 (0047.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000098837
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000099066
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000263151
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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