状態基準保全方式に基づく保全実施のための設備診断技術に関する研究

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Author

    • 奥村, 進 オクムラ, ススム

Bibliographic Information

Title

状態基準保全方式に基づく保全実施のための設備診断技術に関する研究

Author

奥村, 進

Author(Another name)

オクムラ, ススム

University

京都大学

Types of degree

博士 (工学)

Grant ID

乙第8326号

Degree year

1993-09-24

Note and Description

博士論文

Table of Contents

  1. 論文目録 / (0001.jp2)
  2. 目次 / p1 (0004.jp2)
  3. 第1章 緒論 / p1 (0006.jp2)
  4. 1.1 緒言 / p1 (0006.jp2)
  5. 1.2 設備診断技術に関する従来の研究 / p3 (0007.jp2)
  6. 1.3 研究の目的と論文の構成 / p6 (0009.jp2)
  7. 第2章 ボルト軸応力低下量の同定技術 / p9 (0010.jp2)
  8. 2.1 緒言 / p9 (0010.jp2)
  9. 2.2 実験装置および方法 / p11 (0011.jp2)
  10. 2.3 ニューラルネットワークによる同定 / p13 (0012.jp2)
  11. 2.4 ペイズ判別関数法による同定 / p27 (0019.jp2)
  12. 2.5 結言 / p28 (0020.jp2)
  13. 第3章 電磁弁の故障診断技術 / p31 (0021.jp2)
  14. 3.1 緒言 / p31 (0021.jp2)
  15. 3.2 スプール式電磁弁の動作機構と故障原因 / p32 (0022.jp2)
  16. 3.3 実験装置および方法 / p34 (0023.jp2)
  17. 3.4 ニューラルネットワークによる診断 / p36 (0024.jp2)
  18. 3.5 結言 / p45 (0028.jp2)
  19. 第4章 Vベルトの故障診断技術 / p47 (0029.jp2)
  20. 4.1 緒言 / p47 (0029.jp2)
  21. 4.2 Vベルトの作動不良とその原因 / p48 (0030.jp2)
  22. 4.3 実験装置および方法 / p49 (0030.jp2)
  23. 4.4 Vベルトの振動特性 / p51 (0031.jp2)
  24. 4.5 ペイズ判別関数法による故障識別 / p60 (0036.jp2)
  25. 4.6 結言 / p65 (0038.jp2)
  26. 第5章 バイト損耗の診断技術 / p67 (0039.jp2)
  27. 5.1 緒言 / p67 (0039.jp2)
  28. 5.2 開発装置の概要 / p69 (0040.jp2)
  29. 5.3 被検工具の選択とITVカメラの視軸移動 / p72 (0042.jp2)
  30. 5.4 被検工具の損耗の診断 / p75 (0043.jp2)
  31. 5.5 正常工具との比較による損耗量の計算 / p84 (0048.jp2)
  32. 5.6 開発装置の運用結果 / p87 (0049.jp2)
  33. 5.7 結言 / p87 (0049.jp2)
  34. 第6章 ドリル損耗の診断技術 / p89 (0050.jp2)
  35. 6.1 緒言 / p89 (0050.jp2)
  36. 6.2 実験装置 / p90 (0051.jp2)
  37. 6.3 画像人力 / p91 (0051.jp2)
  38. 6.4 損耗の測定方法 / p95 (0053.jp2)
  39. 6.5 実験結果 / p101 (0056.jp2)
  40. 6.6 結言 / p107 (0059.jp2)
  41. 第7章 トロリーコンベヤ用チェーンの微小欠陥検知技術 / p109 (0060.jp2)
  42. 7.1 緒言 / p109 (0060.jp2)
  43. 7.2 欠陥検知法 / p113 (0062.jp2)
  44. 7.3 供試材に対する欠陥検知実験 / p121 (0066.jp2)
  45. 7.4 実験結果および考察 / p123 (0067.jp2)
  46. 7.5 結言 / p131 (0071.jp2)
  47. 第8章 結論 / p133 (0072.jp2)
  48. 謝辞 / p137 (0074.jp2)
  49. 記号表 / p139 (0075.jp2)
  50. 参考文献 / p145 (0078.jp2)
  51. 発表論文一覧表 / p157 (0084.jp2)
7access

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    500000099432
  • NII Author ID (NRID)
    • 8000000099662
  • DOI(NDL)
  • NDLBibID
    • 000000263746
  • Source
    • NDL ONLINE
    • NDL Digital Collections
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