脳電位P300の変動因に関する精神生理学的研究

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著者

    • 浄土, 英一 ジョウド, エイイチ

書誌事項

タイトル

脳電位P300の変動因に関する精神生理学的研究

著者名

浄土, 英一

著者別名

ジョウド, エイイチ

学位授与大学

東北大学

取得学位

博士 (文学)

学位授与番号

甲第4903号

学位授与年月日

1993-06-17

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / S3 / (0005.jp2)
  2. §1.事象関連電位P300の概説 / p1 (0008.jp2)
  3. 1.内因性誘発電位P300の発見 / p1 (0008.jp2)
  4. 2.P300の特徴 / p3 (0010.jp2)
  5. §2.P300の下位成分 / p8 (0015.jp2)
  6. (1)P300a / p8 (0015.jp2)
  7. (2)P300b / p8 (0015.jp2)
  8. (3)P300e / p8 (0015.jp2)
  9. (4)novelty P300 / p10 (0017.jp2)
  10. (5)positive slow wave actiVity / p10 (0017.jp2)
  11. §3.P300の変動因 / p12 (0019.jp2)
  12. 1.時定数 / p12 (0019.jp2)
  13. 2.年齢 / p12 (0019.jp2)
  14. 3.刺激確率 / p15 (0022.jp2)
  15. 4.刺激系列 / p17 (0024.jp2)
  16. 5.刺激強度 / p17 (0024.jp2)
  17. 6.刺激の弁別性 / p18 (0025.jp2)
  18. 7.刺激間隔(ISI) / p18 (0025.jp2)
  19. 8.注意 / p18 (0025.jp2)
  20. 9.記銘項目数と記憶ストラテジー / p19 (0026.jp2)
  21. 10.反応ストラテジー:スピード/正確さ教示 / p21 (0028.jp2)
  22. 11.課題 / p21 (0028.jp2)
  23. 12.練習 / p24 (0031.jp2)
  24. 13.確信度 / p28 (0035.jp2)
  25. 14.視野 / p28 (0035.jp2)
  26. 15.刺激価ないしは刺激情報の利用可能性(utility) / p29 (0036.jp2)
  27. 16.刺激呈示直前α活動 / p31 (0038.jp2)
  28. 17.薬物 / p31 (0038.jp2)
  29. 18.刺激-反応の適合性(S-R compatibility) / p34 (0041.jp2)
  30. 19.Go/NoGo反応 / p41 (0048.jp2)
  31. §4.P300と精神疾患 / p46 (0053.jp2)
  32. (1)精神分裂病 / p46 (0053.jp2)
  33. (2)痴呆 / p48 (0055.jp2)
  34. §5.P300の発生源と発現メカニズム / p50 (0057.jp2)
  35. (1)局所発生源説 / p50 (0057.jp2)
  36. (2)多重発生源説 / p52 (0059.jp2)
  37. §6.指標としてのP300 / p56 (0063.jp2)
  38. (1)P300と反応時間(RT) / p56 (0063.jp2)
  39. (2)P300と精神活動 / p60 (0067.jp2)
  40. (3)指標としてのP300に関する問題点 / p64 (0071.jp2)
  41. §7.実験1『空間的S-R適合性と刺激強度がP300に及ぼす効果』 / p71 (0078.jp2)
  42. (1)導入 / p71 (0078.jp2)
  43. (2)方法 / p72 (0079.jp2)
  44. (3)結果 / p78 (0085.jp2)
  45. (4)考察 / p83 (0090.jp2)
  46. §8.実験2『練習と刺激強度がGo/NoGo課題時のP300に及ぼす効果』 / p86 (0093.jp2)
  47. (1)導入 / p86 (0093.jp2)
  48. (2)方法 / p87 (0094.jp2)
  49. (3)結果 / p93 (0100.jp2)
  50. (4)考察 / p102 (0109.jp2)
  51. §9.実験3『反応抑制負荷の程度差によりP300は影響を受けるか?』 / p107 (0114.jp2)
  52. (1)導入 / p107 (0114.jp2)
  53. (2)方法 / p109 (0116.jp2)
  54. (3)結果 / p122 (0129.jp2)
  55. (4)考察 / p132 (0139.jp2)
  56. §10.総合的考察 / p137 (0144.jp2)
  57. References / p142 (0149.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000099546
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000099776
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000263860
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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