真空紫外線検出器標準の確立に関する研究

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著者

    • 齋藤, 輝文 サイトウ, テルブミ

書誌事項

タイトル

真空紫外線検出器標準の確立に関する研究

著者名

齋藤, 輝文

著者別名

サイトウ, テルブミ

学位授与大学

東北大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

乙第6127号

学位授与年月日

1993-07-14

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / (0003.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0006.jp2)
  3. 1.1 本研究の背景 / p1 (0006.jp2)
  4. 1.2 本研究の目的と意義 / p6 (0011.jp2)
  5. 1.3 本論文の構成と概要 / p7 (0012.jp2)
  6. 1.4 用語の定義 / p8 (0013.jp2)
  7. 第2章 シンクロトロン放射分光利用技術の開発 / p11 (0016.jp2)
  8. 2.1 はじめに / p11 (0016.jp2)
  9. 2.2 放射源 / p11 (0016.jp2)
  10. 2.3.真空紫外線検出器校正用ビームラインの設計とその特性 / p14 (0019.jp2)
  11. 2.4 まとめ / p40 (0045.jp2)
  12. 第3章 半導体フォトダイオードの特性評価 / p42 (0047.jp2)
  13. 3.1 はじめに / p42 (0047.jp2)
  14. 3.2 構造と原理 / p44 (0049.jp2)
  15. 3.3 分光量子効率予測モデル / p46 (0051.jp2)
  16. 3.4 分光量子効率の測定 / p53 (0058.jp2)
  17. 3.5 分光量子効率の入射角依存性と偏光特性 / p62 (0067.jp2)
  18. 3.6 真空紫外域絶対検出器としてのシリコン・フォトダイオード / p63 (0068.jp2)
  19. 3.7 まとめ / p67 (0072.jp2)
  20. 第4章 一次標準検出器の開発 / p69 (0074.jp2)
  21. 4.1 はじめに / p69 (0074.jp2)
  22. 4.2 検出器校正系に要求される仕様 / p69 (0074.jp2)
  23. 4.3 電離箱の原理とその設計 / p70 (0075.jp2)
  24. 4.4 検出器校正システム / p75 (0080.jp2)
  25. 4.5 希ガス電離箱の特性評価 / p78 (0083.jp2)
  26. 4.6 まとめ / p98 (0103.jp2)
  27. 第5章 二次標準検出器の特性評価と校正 / p100 (0105.jp2)
  28. 5.1 はじめに / p100 (0105.jp2)
  29. 5.2 試験検出器 / p100 (0105.jp2)
  30. 5.3 量子効率の面内一様性 / p101 (0106.jp2)
  31. 5.4 量子効率の安定性 / p105 (0110.jp2)
  32. 5.5 校正の方法とその結果 / p108 (0113.jp2)
  33. 5.7 確度評価 / p112 (0117.jp2)
  34. 5.8 まとめ / p115 (0120.jp2)
  35. 第6章 結論 / p117 (0122.jp2)
  36. 謝辞 / p119 (0124.jp2)
  37. 付録 / p120 (0125.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000099597
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000099827
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000263911
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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