Neutrino and weak interaction studied by means of double beta decays of [100]Mo with ELEGANT Ⅴ ELEGANT Ⅴを用いた[100]Moの二重ベータ崩壊によるニュートリノと弱相互作用の研究

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著者

    • 久冨, 信之 クドミ, ノブユキ

書誌事項

タイトル

Neutrino and weak interaction studied by means of double beta decays of [100]Mo with ELEGANT Ⅴ

タイトル別名

ELEGANT Ⅴを用いた[100]Moの二重ベータ崩壊によるニュートリノと弱相互作用の研究

著者名

久冨, 信之

著者別名

クドミ, ノブユキ

学位授与大学

大阪大学

取得学位

博士 (理学)

学位授与番号

甲第5416号

学位授与年月日

1996-03-25

注記・抄録

博士論文

目次

  1. Contents / p2 (0003.jp2)
  2. 1 Introduction / p5 (0006.jp2)
  3. 1.1 Double beta decay and neutrino / p5 (0006.jp2)
  4. 1.2 Measurement of double beta decay by ELEGANT / p9 (0010.jp2)
  5. 1.3 Double beta decay of¹ººMo with ELEGANT V / p10 (0011.jp2)
  6. 2 Formalism for Neutrinoless Double Beta Decays / p12 (0013.jp2)
  7. 2.1 Decay rate for Oυββ / p12 (0013.jp2)
  8. 2.2 0⁺→0⁺Oυββ decay / p14 (0015.jp2)
  9. 2.3 0⁺→2⁺Oυββ decay / p16 (0017.jp2)
  10. 2.4 Oυββ decay with Majoron emission / p17 (0018.jp2)
  11. 2.5 Oυββ decay by SUSY particle / p17 (0018.jp2)
  12. 2.6 Oυββ decay through the composite neutrino exchange / p18 (0019.jp2)
  13. 3 Experimental Setup and Performances / p19 (0020.jp2)
  14. 3.1 ELEGANT V / p19 (0020.jp2)
  15. 3.2 Drift chambers(DC) / p19 (0020.jp2)
  16. 3.3 Plastic detectors(PL) / p21 (0022.jp2)
  17. 3.4 NaI detectors(NaI) / p23 (0024.jp2)
  18. 3.5 Source film / p23 (0024.jp2)
  19. 3.6 Data taking system / p28 (0029.jp2)
  20. 4 Analysis for ββ Decay / p31 (0032.jp2)
  21. 4.1 Evaluation of Background Origins / p31 (0032.jp2)
  22. 4.2 Selections of ββ signal and Rejection of Background signal / p40 (0041.jp2)
  23. 4.3 Analysis for Oυββ decays / p48 (0049.jp2)
  24. 4.4 Summarize / p55 (0056.jp2)
  25. 5 Discussion / p58 (0059.jp2)
  26. 5.1 Neutrino and weak interaction / p58 (0059.jp2)
  27. 5.2 Neutrino mass / p58 (0059.jp2)
  28. 5.3 Other contributions of Oυββ / p60 (0061.jp2)
  29. 5.4 Neutrino as a component of hot dark matter / p61 (0062.jp2)
  30. 5.5 In future / p61 (0062.jp2)
  31. 6 Concluding Remarks / p63 (0064.jp2)
  32. 7 Acknowledgements / p65 (0066.jp2)
  33. Abstract / p4 (0005.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000130308
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000954074
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000294622
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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