順序回路に対する短縮スキャンシフト法とテスト系列生成法に関する研究 ジュンジョ カイロ ニタイスル タンシュク スキャンシフトホウ ト テスト ケイレツ セイセイホウ ニカンスル ケンキュウ

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著者

    • 樋上, 喜信 ヒガミ, ヨシノブ

書誌事項

タイトル

順序回路に対する短縮スキャンシフト法とテスト系列生成法に関する研究

タイトル別名

ジュンジョ カイロ ニタイスル タンシュク スキャンシフトホウ ト テスト ケイレツ セイセイホウ ニカンスル ケンキュウ

著者名

樋上, 喜信

著者別名

ヒガミ, ヨシノブ

学位授与大学

大阪大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第5584号

学位授与年月日

1996-03-25

注記・抄録

博士論文

14401甲第05584号

博士(工学)

大阪大学

1996-03-25

12481

目次

  1. 目次 / p3 (0004.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0005.jp2)
  3. 第2章 順序回路のテスト / p5 (0007.jp2)
  4. 2.1 順序回路モデル / p5 (0007.jp2)
  5. 2.2 故障モデル / p9 (0009.jp2)
  6. 2.3 テスト生成 / p11 (0010.jp2)
  7. 2.4 故障シミュレーション / p12 (0011.jp2)
  8. 2.5 時間展開法 / p14 (0012.jp2)
  9. 2.6 スキャン回路のテスト / p17 (0013.jp2)
  10. 2.7 まとめ / p20 (0015.jp2)
  11. 第3章 短縮スキャンシフト法 / p21 (0015.jp2)
  12. 3.1 基本概念 / p21 (0015.jp2)
  13. 3.2 関連する過去の研究 / p24 (0017.jp2)
  14. 3.3 制御と観測に必要なスキャンシフト / p25 (0017.jp2)
  15. 3.4 対象故障 / p25 (0017.jp2)
  16. 3.5 制御や観測の必要なフリップフロップの求め方 / p27 (0018.jp2)
  17. 3.6 テストベクトル生成 / p30 (0020.jp2)
  18. 第4章 フルスキャン回路に対する短縮スキャンシフト法 / p33 (0021.jp2)
  19. 4.1 スキャンチェーンの構成 / p33 (0021.jp2)
  20. 4.2 テストベクトルの順序 / p33 (0021.jp2)
  21. 4.3 テスト系列生成の繰り返し / p34 (0022.jp2)
  22. 4.4 状態遷移を利用したテスト系列生成 / p36 (0023.jp2)
  23. 4.5 実験結果 / p37 (0023.jp2)
  24. 4.6 まとめ / p38 (0024.jp2)
  25. 第5章 パーシャルスキャン回路に対する短縮スキャンシフト法 / p41 (0025.jp2)
  26. 5.1 パーシャルスキャン回路の設計 / p41 (0025.jp2)
  27. 5.2 テスト系列生成 / p43 (0026.jp2)
  28. 5.3 実験結果 / p47 (0028.jp2)
  29. 5.4 まとめ / p51 (0030.jp2)
  30. 第6章 リタイミングを応用した短縮スキャンシフト法 / p53 (0031.jp2)
  31. 6.1 概要 / p53 (0031.jp2)
  32. 6.2 フリップフロップ数の減少するリタイミング / p55 (0032.jp2)
  33. 6.3 フリップフロップ数の変わらないリタイミング / p56 (0033.jp2)
  34. 6.4 スキャンシフト数の減少 / p57 (0033.jp2)
  35. 6.5 テストベクトルの変更とテスト系列生成 / p60 (0035.jp2)
  36. 6.6 実験結果 / p62 (0036.jp2)
  37. 6.7 まとめ / p63 (0036.jp2)
  38. 第7章 区別系列を持つ順序回路のテスト系列生成 / p65 (0037.jp2)
  39. 7.1 区別系列とは / p65 (0037.jp2)
  40. 7.2 区別系列用いたHennieのテスト系列生成法 / p65 (0037.jp2)
  41. 7.3 区別系列を求める方法 / p67 (0038.jp2)
  42. 7.4 区別系列を持つ順序回路の設計 / p68 (0039.jp2)
  43. 7.5 テスト系列生成 / p70 (0040.jp2)
  44. 7.6 テスト系列の短縮法 / p72 (0041.jp2)
  45. 7.7 実験結果 / p75 (0042.jp2)
  46. 7.8 まとめ / p76 (0043.jp2)
  47. 第8章 結論 / p79 (0044.jp2)
  48. 謝辞 / p82 (0046.jp2)
  49. 参考文献 / p83 (0046.jp2)
  50. 発表論文一覧 / p88 (0049.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000130476
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000954233
  • DOI(NDL)
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000000294790
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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