飛行時間型低速イオン散乱法による固体表面の構造解析に関する研究 ヒコウジカン ガタ テイソク イオン サンランホウ ニヨル コタイ ヒョウメン ノ コウゾウ カイセキ ニ カンスル ケンキュウ

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著者

    • 田中, 保宣 タナカ, ヤスノリ

書誌事項

タイトル

飛行時間型低速イオン散乱法による固体表面の構造解析に関する研究

タイトル別名

ヒコウジカン ガタ テイソク イオン サンランホウ ニヨル コタイ ヒョウメン ノ コウゾウ カイセキ ニ カンスル ケンキュウ

著者名

田中, 保宣

著者別名

タナカ, ヤスノリ

学位授与大学

大阪大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第5600号

学位授与年月日

1996-03-25

注記・抄録

博士論文

12497

博士(工学)

1996-03-25

大阪大学

14401甲第05600号

目次

  1. 目次 / p3 (0004.jp2)
  2. 第1章 緒論 / p1 (0005.jp2)
  3. 第2章 低速イオン散乱法(ISS)による固体表面の構造解析 / p7 (0008.jp2)
  4. 2.1 緒言 / p7 (0008.jp2)
  5. 2.2 低速イオン散乱法(ISS)の基礎事項と問題点 / p7 (0008.jp2)
  6. 2.3 飛行時間型直衝突低速イオン散乱法(TOF-ICISS)による表面構造解析 / p15 (0012.jp2)
  7. 2.4 コンピュータシミュレーションの概要 / p17 (0013.jp2)
  8. 2.5 結言 / p21 (0015.jp2)
  9. 第3章 実験装置と実験手法 / p22 (0016.jp2)
  10. 3.1 緒言 / p22 (0016.jp2)
  11. 3.2 飛行時間測定系 / p22 (0016.jp2)
  12. 3.3 測定用超高真空装置 / p27 (0018.jp2)
  13. 3.4 実験手法 / p30 (0020.jp2)
  14. 3.5 結言 / p32 (0021.jp2)
  15. 第4章 Pb/Si(111)成長初期過程のTOF-ICISS観察 / p33 (0021.jp2)
  16. 4.1 緒言 / p33 (0021.jp2)
  17. 4.2 実験結果 / p34 (0022.jp2)
  18. 4.3 検討 / p40 (0025.jp2)
  19. 4.4 結言 / p44 (0027.jp2)
  20. 第5章 Si(111)√3×√3-Pb表面の水素誘起クラスタリングに関する研究 / p45 (0027.jp2)
  21. 5.1 緒言 / p45 (0027.jp2)
  22. 5.2 実験結果 / p45 (0027.jp2)
  23. 5.3 検討 / p48 (0029.jp2)
  24. 5.4 結言 / p55 (0032.jp2)
  25. 第6章 SrTiO₃(100)表面の構造解析 / p56 (0033.jp2)
  26. 6.1 緒言 / p56 (0033.jp2)
  27. 6.2 実験結果 / p56 (0033.jp2)
  28. 6.3 検討 / p61 (0035.jp2)
  29. 6.4 結言 / p67 (0038.jp2)
  30. 第7章 総括 / p68 (0039.jp2)
  31. 謝辞 / p70 (0040.jp2)
  32. 参考文献 / p71 (0040.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000130492
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000954247
  • DOI(NDL)
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000000294806
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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