飛行時間型低速イオン散乱法による固体表面の構造解析に関する研究 ヒコウジカン ガタ テイソク イオン サンランホウ ニヨル コタイ ヒョウメン ノ コウゾウ カイセキ ニ カンスル ケンキュウ
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Bibliographic Information
- Title
-
飛行時間型低速イオン散乱法による固体表面の構造解析に関する研究
- Other Title
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ヒコウジカン ガタ テイソク イオン サンランホウ ニヨル コタイ ヒョウメン ノ コウゾウ カイセキ ニ カンスル ケンキュウ
- Author
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田中, 保宣
- Author(Another name)
-
タナカ, ヤスノリ
- University
-
大阪大学
- Types of degree
-
博士 (工学)
- Grant ID
-
甲第5600号
- Degree year
-
1996-03-25
Note and Description
博士論文
Table of Contents
- 目次 / p3 (0004.jp2)
- 第1章 緒論 / p1 (0005.jp2)
- 第2章 低速イオン散乱法(ISS)による固体表面の構造解析 / p7 (0008.jp2)
- 2.1 緒言 / p7 (0008.jp2)
- 2.2 低速イオン散乱法(ISS)の基礎事項と問題点 / p7 (0008.jp2)
- 2.3 飛行時間型直衝突低速イオン散乱法(TOF-ICISS)による表面構造解析 / p15 (0012.jp2)
- 2.4 コンピュータシミュレーションの概要 / p17 (0013.jp2)
- 2.5 結言 / p21 (0015.jp2)
- 第3章 実験装置と実験手法 / p22 (0016.jp2)
- 3.1 緒言 / p22 (0016.jp2)
- 3.2 飛行時間測定系 / p22 (0016.jp2)
- 3.3 測定用超高真空装置 / p27 (0018.jp2)
- 3.4 実験手法 / p30 (0020.jp2)
- 3.5 結言 / p32 (0021.jp2)
- 第4章 Pb/Si(111)成長初期過程のTOF-ICISS観察 / p33 (0021.jp2)
- 4.1 緒言 / p33 (0021.jp2)
- 4.2 実験結果 / p34 (0022.jp2)
- 4.3 検討 / p40 (0025.jp2)
- 4.4 結言 / p44 (0027.jp2)
- 第5章 Si(111)√3×√3-Pb表面の水素誘起クラスタリングに関する研究 / p45 (0027.jp2)
- 5.1 緒言 / p45 (0027.jp2)
- 5.2 実験結果 / p45 (0027.jp2)
- 5.3 検討 / p48 (0029.jp2)
- 5.4 結言 / p55 (0032.jp2)
- 第6章 SrTiO₃(100)表面の構造解析 / p56 (0033.jp2)
- 6.1 緒言 / p56 (0033.jp2)
- 6.2 実験結果 / p56 (0033.jp2)
- 6.3 検討 / p61 (0035.jp2)
- 6.4 結言 / p67 (0038.jp2)
- 第7章 総括 / p68 (0039.jp2)
- 謝辞 / p70 (0040.jp2)
- 参考文献 / p71 (0040.jp2)