共鳴トンネル現象に於けるキャリア輸送解析法の研究
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著者
書誌事項
- タイトル
-
共鳴トンネル現象に於けるキャリア輸送解析法の研究
- 著者名
-
谷山, 秀昭
- 著者別名
-
タニヤマ, ヒデアキ
- 学位授与大学
-
大阪大学
- 取得学位
-
博士 (工学)
- 学位授与番号
-
乙第6877号
- 学位授与年月日
-
1996-03-05
注記・抄録
博士論文
目次
- 目次 / p1 (0003.jp2)
- 1 序 / p1 (0005.jp2)
- 1.1 はじめに / p1 (0005.jp2)
- 1.2 共鳴トンネルを用いた素子に関する研究 / p1 (0005.jp2)
- 1.3 量子効果の解析法 / p2 (0006.jp2)
- 1.4 本研究の目的 / p4 (0007.jp2)
- 2 波動解析 / p5 (0007.jp2)
- 2.1 Time-independent Schrödinger equation / p5 (0007.jp2)
- 2.2 Time-dependent Schrödinger equation / p10 (0010.jp2)
- 2.3 統計的取扱 / p20 (0015.jp2)
- 3 デバイス解析への拡張 / p27 (0018.jp2)
- 3.1 共鳴トンネルトランジスタ / p28 (0019.jp2)
- 3.2 分布モデル / p28 (0019.jp2)
- 3.3 計算結果 / p32 (0021.jp2)
- 3.4 まとめ / p34 (0022.jp2)
- 4 散乱効果の導入 / p35 (0022.jp2)
- 4.1 S-Matrix / p35 (0022.jp2)
- 4.2 Double barrier structure / p42 (0026.jp2)
- 4.3 モンテカルロ法 / p47 (0028.jp2)
- 4.4 まとめ / p55 (0032.jp2)
- 5 デバイス解析への応用 / p57 (0033.jp2)
- 5.1 結合量子井戸共鳴トンネルトランジスタ / p58 (0034.jp2)
- 5.2 電子および正孔によるベース電流 / p59 (0034.jp2)
- 5.3 トランジスタ特性の非弾性散乱結合定数および内部抵抗依存性 / p62 (0036.jp2)
- 5.4 デバイス特性(エミッタ面積依存性) / p65 (0037.jp2)
- 5.5 まとめ / p68 (0039.jp2)
- 6 より精密な解析 / p71 (0040.jp2)
- 6.1 タイトバインディングモデル / p72 (0041.jp2)
- 6.2 ヘテロ構造の電子状態 / p79 (0044.jp2)
- 6.3 まとめ / p87 (0048.jp2)
- 7 結論 / p89 (0049.jp2)
- A Wronskian定理 / p93 (0051.jp2)
- B トンネル電流 / p95 (0052.jp2)
- C ウィグナー関数の運動方程式 / p97 (0053.jp2)
- D 有限差分法によるWigner関数の数値計算 / p101 (0055.jp2)
- E 電子･プラズモン散乱 / p107 (0058.jp2)
- F S-Matrixのユニタリ性 / p109 (0059.jp2)
- G 有効質量近似 / p113 (0061.jp2)
- H ハミルトニアンの行列要素 / p115 (0062.jp2)
- H.1 〔111〕方向ヘテロ構造の行列要素 / p115 (0062.jp2)
- H.2 〔100〕方向ヘテロ構造の行列要素 / p118 (0064.jp2)
- 謝辞 / p121 (0065.jp2)
- 参考文献 / p123 (0066.jp2)
- 本研究に関する発表 / p131 (0070.jp2)
