固体電解質起電力法による溶融Zn中のAl濃度の迅速測定法に関する研究

この論文をさがす

著者

    • 松原, 茂雄 マツバラ, シゲオ

書誌事項

タイトル

固体電解質起電力法による溶融Zn中のAl濃度の迅速測定法に関する研究

著者名

松原, 茂雄

著者別名

マツバラ, シゲオ

学位授与大学

大阪大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

乙第6890号

学位授与年月日

1996-03-05

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / p1 (0003.jp2)
  2. 1.序論 / p1 (0005.jp2)
  3. 1.1 本研究の背景 / p1 (0005.jp2)
  4. 1.2 固体電解質センサーの金属工業への応用に関する従来の研究 / p1 (0005.jp2)
  5. 1.3 本研究の目的 / p3 (0006.jp2)
  6. 1.4 本論文の構成 / p3 (0006.jp2)
  7. 文献 / p5 (0007.jp2)
  8. 2.溶融亜鉛用ジルコニア酸素センサーのセル構成 / p6 (0008.jp2)
  9. 2.1 緒言 / p6 (0008.jp2)
  10. 2.2 実験原理 / p6 (0008.jp2)
  11. 2.3 実験方法 / p8 (0009.jp2)
  12. 2.4 実験結果および考察 / p11 (0010.jp2)
  13. 2.5 結言 / p19 (0014.jp2)
  14. 文献 / p21 (0015.jp2)
  15. 3.液体参照極の構成に関する基礎的検討 / p22 (0016.jp2)
  16. 3.1 緒言 / p22 (0016.jp2)
  17. 3.2 実験方法 / p23 (0016.jp2)
  18. 3.3 実験結果および考察 / p25 (0017.jp2)
  19. 3.4 結言 / p37 (0023.jp2)
  20. 文献 / p38 (0024.jp2)
  21. 4.ジルコニア固体電解質起電力法による溶融Zn中のAl濃度の定量 / p39 (0024.jp2)
  22. 4.1 緒言 / p39 (0024.jp2)
  23. 4.2 実験方法 / p40 (0025.jp2)
  24. 4.3 実験結果および考察 / p43 (0026.jp2)
  25. 4.4 結言 / p54 (0032.jp2)
  26. 文献 / p55 (0032.jp2)
  27. 5.Zn-Al-Fe三元系への適用 / p56 (0033.jp2)
  28. 5.1 緒言 / p56 (0033.jp2)
  29. 5.2 実験方法 / p56 (0033.jp2)
  30. 5.3 実験結果および考察 / p59 (0034.jp2)
  31. 5.4 結言 / p64 (0037.jp2)
  32. 文献 / p65 (0037.jp2)
  33. 6.溶融Zn中の酸素ポテンシャルにおよぼすMnおよびCrの影響 / p66 (0038.jp2)
  34. 6.1 緒言 / p66 (0038.jp2)
  35. 6.2 実験方法 / p66 (0038.jp2)
  36. 6.3 実験結果および考察 / p69 (0039.jp2)
  37. 6.4 結言 / p79 (0044.jp2)
  38. 文献 / p80 (0045.jp2)
  39. 7.CaF₂固体電解質を用いた溶融Zn浴のフッ素ポテンシャル測定用セル / p81 (0045.jp2)
  40. 7.1 緒言 / p81 (0045.jp2)
  41. 7.2 実験原理 / p81 (0045.jp2)
  42. 7.3 実験方法 / p83 (0046.jp2)
  43. 7.4 実験結果および考察 / p86 (0048.jp2)
  44. 7.5 結言 / p93 (0051.jp2)
  45. 文献 / p94 (0052.jp2)
  46. 8.CaF₂固体電解質を用いた起電力法による溶融Zn中のAI濃度の定量 / p95 (0052.jp2)
  47. 8.1 緒言 / p95 (0052.jp2)
  48. 8.2 実験原理 / p96 (0053.jp2)
  49. 8.3 実験方法 / p97 (0053.jp2)
  50. 8.4 実験結果および考察 / p98 (0054.jp2)
  51. 8.5 結言 / p106 (0058.jp2)
  52. 文献 / p107 (0058.jp2)
  53. 9.総括 / p108 (0059.jp2)
  54. 投稿論文 / p111 (0060.jp2)
  55. 謝辞 / p113 (0061.jp2)
3アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000130651
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000954398
  • DOI(NDL)
  • 本文言語コード
    • und
  • NDL書誌ID
    • 000000294965
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL ONLINE
    • NDLデジタルコレクション
ページトップへ