Ⅳ族及びⅢ-Ⅴ族半導体の熱膨張係数の精密測定

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著者

    • 春名, 勝次 ハルナ, カツジ

書誌事項

タイトル

Ⅳ族及びⅢ-Ⅴ族半導体の熱膨張係数の精密測定

著者名

春名, 勝次

著者別名

ハルナ, カツジ

学位授与大学

玉川大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

乙第50号

学位授与年月日

1996-03-10

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / (0003.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0005.jp2)
  3. §1.1 本研究の目的と意義 / p1 (0005.jp2)
  4. §1.2 本論分の構成 / p3 (0007.jp2)
  5. 第2章 固体の熱膨張 / p5 (0009.jp2)
  6. §2.1 序言 / p5 (0009.jp2)
  7. §2.2 固体の負の熱膨張現象 / p5 (0009.jp2)
  8. §2.3 負の熱膨張理論 / p7 (0011.jp2)
  9. 第3章 X線による格子定数測定 / p17 (0021.jp2)
  10. §3.1 序言 / p17 (0021.jp2)
  11. §3.2 ボンド法 / p17 (0021.jp2)
  12. §3.3 クライオスタット / p19 (0023.jp2)
  13. §3.4 格子定数の測定精度 / p25 (0029.jp2)
  14. §3.5 測定結果の補正 / p27 (0031.jp2)
  15. §3.6 測定試料及び測定条件 / p29 (0033.jp2)
  16. 第4章 結果検討 / p31 (0035.jp2)
  17. §4.1 序言 / p31 (0035.jp2)
  18. §4.2 Siの結果検討 / p31 (0035.jp2)
  19. §4.3 GaPの結果検討 / p40 (0044.jp2)
  20. §4.4 InPの結果検討 / p49 (0053.jp2)
  21. §4.5 ダイヤモンドの結果検討 / p57 (0061.jp2)
  22. §4.6 総括検討 / p66 (0070.jp2)
  23. 第5章 本論文の結論 / p85 (0089.jp2)
  24. §5 結論 / p85 (0089.jp2)
  25. 謝辞 / p89 (0093.jp2)
  26. 文献 / p90 (0094.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000131391
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000966072
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000295705
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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