Nanometer scale fabrication using scanning tunneling microscopy 走査型トンネル顕微鏡によるナノスケールの加工に関する研究

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著者

    • 安部, 司 アベ, ツカサ

書誌事項

タイトル

Nanometer scale fabrication using scanning tunneling microscopy

タイトル別名

走査型トンネル顕微鏡によるナノスケールの加工に関する研究

著者名

安部, 司

著者別名

アベ, ツカサ

学位授与大学

名古屋大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第3443号

学位授与年月日

1996-03-25

注記・抄録

博士論文

目次

  1. Contents / p1 (0003.jp2)
  2. 1 Introduction / p1 (0004.jp2)
  3. 1.1 Historical Background / p1 (0004.jp2)
  4. 1.2 Electron Tunnel Effect / p2 (0005.jp2)
  5. 1.3 Principle of the Scanning Tunneling Microscope / p4 (0006.jp2)
  6. 1.4 Scanning Tunneling Microscopy and Related Techniques / p8 (0008.jp2)
  7. 1.5 Modes of Operation of Scanning Tunneling Microscope / p10 (0009.jp2)
  8. 1.6 Nanometer Scale Fabrication Using Scanning Tunneling Microscopy / p15 (0011.jp2)
  9. 1.7 Fabrication on Graphite / p21 (0014.jp2)
  10. 1.8 Purposes of This Thesis / p22 (0015.jp2)
  11. 2 Scanning Tunneling Microscope / p29 (0018.jp2)
  12. 3 Nanometer-scale pit formation on graphite surface and tip current / p37 (0022.jp2)
  13. 3.1 Introduction / p37 (0022.jp2)
  14. 3.2 Experimental Setup / p38 (0023.jp2)
  15. 3.3 Result and Discussion / p42 (0025.jp2)
  16. 3.4 Conclusions / p48 (0028.jp2)
  17. 4 Characteristics of DC-Voltage Etching of Graphite / p51 (0029.jp2)
  18. 4.1 Introduction / p52 (0030.jp2)
  19. 4.2 Experimental Setup / p53 (0030.jp2)
  20. 4.3 Structure Formation / p54 (0031.jp2)
  21. 4.4 Etching Characteristics and Controllability / p56 (0032.jp2)
  22. 4.5 Conclusions / p68 (0038.jp2)
  23. 5 Pit and Mound Formation on Arc-Evaporated Carbon Thin Film / p71 (0039.jp2)
  24. 5.1 Introduction / p72 (0040.jp2)
  25. 5.2 Experimental Setup / p72 (0040.jp2)
  26. 5.3 Etching of Evaporate Carbon Film / p75 (0041.jp2)
  27. 5.4 Mound Formation / p83 (0045.jp2)
  28. 5.5 Exfoliation of the Carbon Film / p91 (0049.jp2)
  29. 5.6 Conclusions / p94 (0051.jp2)
  30. 6 Monolayer Pit Formation on the HOPG Surface Using Oxygen Plasma and Thermal Oxidation / p99 (0053.jp2)
  31. 6.1 Introduction / p99 (0053.jp2)
  32. 6.2 Experimental Setup / p100 (0054.jp2)
  33. 6.3 Results and Discussions / p102 (0055.jp2)
  34. 6.4 Conclusions / p109 (0058.jp2)
  35. 7 Summery / p111 (0059.jp2)
  36. 7.1 General Summery / p111 (0059.jp2)
  37. 7.2 Future Prospect / p114 (0061.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000131821
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000966457
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000296135
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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