4d photoionization of singly-charged xenon ions using photon-ion merged-beam technique 光-イオンビーム合流法を用いたキセノン1価イオンの4d光電離

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著者

    • 佐野, 睦 サノ, ムツミ

書誌事項

タイトル

4d photoionization of singly-charged xenon ions using photon-ion merged-beam technique

タイトル別名

光-イオンビーム合流法を用いたキセノン1価イオンの4d光電離

著者名

佐野, 睦

著者別名

サノ, ムツミ

学位授与大学

立教大学

取得学位

博士 (理学)

学位授与番号

甲第77号

学位授与年月日

1996-03-31

注記・抄録

博士論文

目次

  1. Contents / (0004.jp2)
  2. Abstract / p1 (0005.jp2)
  3. §1.Introduction / p2 (0006.jp2)
  4. 1-1.Photoionization of ions / p2 (0006.jp2)
  5. 1-2.Giant resonance / p3 (0007.jp2)
  6. 1-3.Controlled orbital collapse / p5 (0009.jp2)
  7. 1-4.Scope of this study / p6 (0010.jp2)
  8. §2.Experiment / p7 (0011.jp2)
  9. 2-1.Merged-beam apparatus / p7 (0011.jp2)
  10. 2-2.Electron impact ion source / p8 (0012.jp2)
  11. 2-3.Interaction region / p10 (0014.jp2)
  12. 2-4.Charge state analyzer and detector / p10 (0014.jp2)
  13. 2-5.Calibrations / p11 (0015.jp2)
  14. §3.Experimental Results / p11 (0015.jp2)
  15. §4.Calculation and discussion / p13 (0017.jp2)
  16. §5.Summary / p19 (0023.jp2)
  17. Acknowledgments / p21 (0025.jp2)
  18. References / p22 (0026.jp2)
  19. Figure captions / p25 (0029.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000132016
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000966641
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000296330
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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