軟X線写真の最適撮影条件

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著者

    • 尾崎, 吉明 オザキ, ヨシアキ

書誌事項

タイトル

軟X線写真の最適撮影条件

著者名

尾崎, 吉明

著者別名

オザキ, ヨシアキ

学位授与大学

京都工芸繊維大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

乙第40号

学位授与年月日

1995-11-28

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / p1 (0003.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0005.jp2)
  3. 1.1 軟X線写真の活用状況 / p1 (0005.jp2)
  4. 1.2 本研究の目的と内容 / p2 (0006.jp2)
  5. 第2章 高純度Ge検出器を用いた軟X線スペクトル測定方法 / p6 (0008.jp2)
  6. 2.1 まえがき / p6 (0008.jp2)
  7. 2.2 実験配置 / p7 (0008.jp2)
  8. 2.3 X線ビームの軸合わせの方法 / p9 (0009.jp2)
  9. 2.4 測定結果の補正 / p11 (0010.jp2)
  10. 2.5 補正結果 / p14 (0012.jp2)
  11. 2.6 まとめ / p18 (0014.jp2)
  12. 第3章 軟X線スペクトルの効率的測定法 / p20 (0015.jp2)
  13. 3.1 まえがき / p20 (0015.jp2)
  14. 3.2 管電流を減少させる場合の問題点 / p21 (0015.jp2)
  15. 3.3 管電圧波形の測定 / p22 (0016.jp2)
  16. 3.4 管電流増減時の軟X線スペクトル / p24 (0017.jp2)
  17. 3.5 軟X線スペクトルの効率的測定方法 / p25 (0017.jp2)
  18. 3.6 まとめ / p26 (0018.jp2)
  19. 第4章 厚さ―濃度曲線 / p27 (0018.jp2)
  20. 4.1 まえがき / p27 (0018.jp2)
  21. 4.2 透過X線スペクトルの測定 / p28 (0019.jp2)
  22. 4.3 照射線量で表した減弱曲線 / p33 (0021.jp2)
  23. 4.4 フィルム乳剤のX線吸収効率スペクトル / p33 (0021.jp2)
  24. 4.5 フィルム乳剤のX線吸収エネルギーで表した減弱曲線 / p40 (0025.jp2)
  25. 4.6 フィルム特性曲線 / p40 (0025.jp2)
  26. 4.7 厚さ―濃度曲線 / p43 (0026.jp2)
  27. 4.8 まとめ / p47 (0028.jp2)
  28. 第5章 最適濃度の空間周波数依存性 / p48 (0029.jp2)
  29. 5.1 まえがき / p48 (0029.jp2)
  30. 5.2 テストパターンの作成 / p49 (0029.jp2)
  31. 5.3 最小識別コントラスト / p51 (0030.jp2)
  32. 5.4 最適濃度の空間周波数依存性 / p55 (0032.jp2)
  33. 5.5 視覚評価 / p56 (0033.jp2)
  34. 5.6 まとめ / p64 (0037.jp2)
  35. 第6章 ステップ・エッジ・イメージに対する最適濃度 / p67 (0038.jp2)
  36. 6.1 まえがき / p67 (0038.jp2)
  37. 6.2 最小識別光束発散度差 / p68 (0039.jp2)
  38. 6.3 最小識別コントラスト / p70 (0040.jp2)
  39. 6.4 最適濃度 / p72 (0041.jp2)
  40. 6.5 視覚評価 / p72 (0041.jp2)
  41. 6.6 まとめ / p77 (0043.jp2)
  42. 第7章 最適撮影条件 / p78 (0044.jp2)
  43. 7.1 まえがき / p78 (0044.jp2)
  44. 7.2 被写体の厚さの差と物理的コントラストとの関係 / p78 (0044.jp2)
  45. 7.3 減弱曲線 / p80 (0045.jp2)
  46. 7.4 フイルム特性曲線 / p82 (0046.jp2)
  47. 7.5 厚さ―濃度曲線 / p82 (0046.jp2)
  48. 7.6 最適濃度 / p84 (0047.jp2)
  49. 7.7最適撮影条件 / p85 (0047.jp2)
  50. 7.8 検出限界の視覚評価 / p88 (0049.jp2)
  51. 7.9 まとめ / p90 (0050.jp2)
  52. 第8章 結論 / p92 (0051.jp2)
  53. 謝辞 / p96 (0053.jp2)
  54. 参考文献 / p97 (0053.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000132363
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000966980
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000296677
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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