共有結合物質表面・界面の構造安定性とその電子論的起源

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著者

    • 中村, 淳 ナカムラ, ジュン

書誌事項

タイトル

共有結合物質表面・界面の構造安定性とその電子論的起源

著者名

中村, 淳

著者別名

ナカムラ, ジュン

学位授与大学

早稲田大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第1140号

学位授与年月日

1996-03-15

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / p2 (0003.jp2)
  2. 第1章 序論 / p5 (0006.jp2)
  3. 1-1 物質設計と電子状態理論 / p5 (0006.jp2)
  4. 1-2 本研究の目的と概要 / p6 (0007.jp2)
  5. 第1章の参考文献 / p8 (0009.jp2)
  6. 第2章 混成軌道のオービタル電気陰性度~MX₄(M=C,Si,Ge,X=F,Cl,Br,I)分子の電子状態~ / p9 (0010.jp2)
  7. 2-1 はじめに / p9 (0010.jp2)
  8. 2-2 計算方法 / p9 (0010.jp2)
  9. 2-3 計算結果と考察 / p11 (0012.jp2)
  10. 2-4 結言 / p21 (0022.jp2)
  11. 第2章の参考文献 / p22 (0023.jp2)
  12. 第3章 IV族およびIII-V族化合物半導体表面再構成の電子論的評価 / p23 (0024.jp2)
  13. 3-1 はじめに / p23 (0024.jp2)
  14. 3-2 混成軌道のs軌道成分の結合角依存性 / p26 (0027.jp2)
  15. 3-3 Si(001)-2×1再構成表面の電子状態 / p31 (0032.jp2)
  16. 3-4 III-V族化合物半導体の{111}-2×2再構成表面の電子状態 / p38 (0039.jp2)
  17. 3-5 結言 / p77 (0078.jp2)
  18. 第3章の参考文献 / p79 (0080.jp2)
  19. 第4章 単原子層グラファイト/SiC(111)A系不整合界面の安定性 / p82 (0083.jp2)
  20. 4-1 はじめに / p82 (0083.jp2)
  21. 4-2 MLG/β-Sic(111)A系に対する従来の研究 / p84 (0085.jp2)
  22. 4-3 分子軌道法によるMLG/β-SiC(111)A界面の電子状態の評価 / p93 (0094.jp2)
  23. 4-4 結言 / p121 (0122.jp2)
  24. 第4章の参考文献 / p122 (0123.jp2)
  25. 第5章 表面変性エピタキシーの電子論的評価 / p124 (0125.jp2)
  26. 5-1 はじめに / p124 (0125.jp2)
  27. 5-2 Ge/Si(111)-Sb系の表面変性エピタキシー過程に関する従来の研究 / p125 (0126.jp2)
  28. 5-3 Si(111)上のGe擬形態層に及ぼすSbサーファクタントの効果 / p128 (0129.jp2)
  29. 5-4 結言 / p147 (0148.jp2)
  30. 第5章の参考文献 / p148 (0149.jp2)
  31. 第6章 総括 / p150 (0151.jp2)
  32. Appendix A:電子状態理論と電気陰性度 / p153 (0154.jp2)
  33. ★Hartree-Fock法における軌道エネルギーの意味 / p153 (0154.jp2)
  34. ★Xα法における軌道エネルギーの意味 / p155 (0156.jp2)
  35. Appendix B:電荷密度解析 / p161 (0162.jp2)
  36. Appendix C:MOOP(Molecular Orbital Overlap Population) / p163 (0164.jp2)
  37. Appendix D:LCAO-DV-Xα法 / p166 (0167.jp2)
  38. ★DV-Xα分子軌道法 / p166 (0167.jp2)
  39. ★DV-Xαバンド計算法 / p166 (0167.jp2)
  40. Appendix E:擬ポテンシャルを用いた全エネルギー計算 / p171 (0172.jp2)
  41. ★密度汎関数法 / p171 (0172.jp2)
  42. ★波動関数の平面波展開 / p173 (0174.jp2)
  43. ★ノルム保存擬ポテンシャル / p173 (0174.jp2)
  44. 謝辞 / p177 (0178.jp2)
  45. 研究業績 / p178 (0179.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000132418
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000967034
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000296732
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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