工業用低エネルギー電子線照射の線量評価

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著者

    • 来島, 利幸 キジマ, トシユキ

書誌事項

タイトル

工業用低エネルギー電子線照射の線量評価

著者名

来島, 利幸

著者別名

キジマ, トシユキ

学位授与大学

大阪工業大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第13号

学位授与年月日

1996-03-05

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / p1 (0007.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0011.jp2)
  3. 1.1 はじめに / p1 (0011.jp2)
  4. 1.2 工業用低エネルギー電子線照射利用の現状 / p1 (0011.jp2)
  5. 1.3 工業用電子線照射装置の現状 / p2 (0012.jp2)
  6. 1.4 電子線量評価の重要性 / p4 (0014.jp2)
  7. 1.5 線量計による線量測定 / p5 (0015.jp2)
  8. 1.6 計算評価法 / p6 (0016.jp2)
  9. 1.7 照射パラメータ / p8 (0018.jp2)
  10. 1.8 結論 / p10 (0020.jp2)
  11. 参考文献 / p11 (0021.jp2)
  12. 第2章 電子線量の実測評価 / p16 (0026.jp2)
  13. 2.1 まえがき / p16 (0026.jp2)
  14. 2.2 吸収線量 / p17 (0027.jp2)
  15. 2.3 電子線照射装置 / p17 (0027.jp2)
  16. 2.4 吸収線量の実測 / p18 (0028.jp2)
  17. 2.5 深度線量分布 / p23 (0033.jp2)
  18. 2.6 透過電子数 / p25 (0035.jp2)
  19. 2.7 薄いフィルム線量計の問題点と限界 / p26 (0036.jp2)
  20. 2.8 結論 / p27 (0037.jp2)
  21. 参考文献 / p28 (0038.jp2)
  22. 第3章 計算評価法 / p32 (0042.jp2)
  23. 3.1 まえがき / p32 (0042.jp2)
  24. 3.2 入射電子の振る舞い / p33 (0043.jp2)
  25. 3.3 計算値の妥当性 / p40 (0050.jp2)
  26. 3.4 CTAフィルムの性質 / p44 (0054.jp2)
  27. 3.5 結論 / p46 (0056.jp2)
  28. 参考文献 / p48 (0058.jp2)
  29. 第4章 線量評価に影響を与える電子挙動の解析 / p52 (0062.jp2)
  30. 4.1 まえがき / p52 (0062.jp2)
  31. 4.2 300keV電子線の振る舞い / p53 (0063.jp2)
  32. 4.3 入射電子のエネルギースペクトル / p55 (0065.jp2)
  33. 4.4 入射電子の入射角度分布 / p57 (0067.jp2)
  34. 4.5 照射方法による深度線量分布への影響 / p61 (0071.jp2)
  35. 4.6 通過電子数 / p61 (0071.jp2)
  36. 4.7 照射窓,空気および被照射体の吸収エネルギー / p62 (0072.jp2)
  37. 4.8 結論 / p63 (0073.jp2)
  38. 参考文献 / p65 (0075.jp2)
  39. 第5章 薄膜層の線量評価 / p67 (0077.jp2)
  40. 5.1 まえがき / p67 (0077.jp2)
  41. 5.2 薄膜層の厚さが吸収線量に与える影響 / p68 (0078.jp2)
  42. 5.3 基材の種類が吸収線量に与える影響 / p69 (0079.jp2)
  43. 5.4 通過電子のエネルギースペクトル / p70 (0080.jp2)
  44. 5.5 後方散乱係数の評価 / p71 (0081.jp2)
  45. 5.6 表面線量分布 / p74 (0084.jp2)
  46. 5.7 結論 / p76 (0086.jp2)
  47. 参考文献 / p78 (0088.jp2)
  48. 第6章 極表面層の吸収線量評価 / p80 (0090.jp2)
  49. 6.1 まえがき / p80 (0090.jp2)
  50. 6.2 極表面層の吸光度変化に及ぼす外的雰囲気 / p81 (0091.jp2)
  51. 6.3 深度線量分布の照射電荷フルエンス率による変化 / p81 (0091.jp2)
  52. 6.4 沈積電子数分布 / p83 (0093.jp2)
  53. 6.5 表面電荷密度の測定 / p84 (0094.jp2)
  54. 6.6 深度沈積電荷量分布の測定 / p85 (0095.jp2)
  55. 6.7 各種フィルム中の沈積電荷量分布 / p87 (0097.jp2)
  56. 6.8 フィルムの帯電 / p88 (0098.jp2)
  57. 6.8 結論 / p89 (0099.jp2)
  58. 参考文献 / p90 (0100.jp2)
  59. 第7章 電界を考慮した計算評価法 / p93 (0103.jp2)
  60. 7.1 まえがき / p93 (0103.jp2)
  61. 7.2 電界を考慮した電子軌道モデル / p94 (0104.jp2)
  62. 7.3 帯電フィルムの深度線量分布計算 / p100 (0110.jp2)
  63. 7.4 結論 / p103 (0113.jp2)
  64. 参考文献 / p105 (0115.jp2)
  65. 第8章 加速器電流と吸収線量の評価 / p107 (0117.jp2)
  66. 8.1 まえがき / p107 (0117.jp2)
  67. 8.2 静的照射 / p108 (0118.jp2)
  68. 8.3 動的照射 / p111 (0121.jp2)
  69. 8.4 吸収線量率の簡易計算法 / p115 (0125.jp2)
  70. 8.5 結論 / p118 (0128.jp2)
  71. 参考文献 / p119 (0129.jp2)
  72. 第9章 総括 / p120 (0130.jp2)
  73. 謝辞 / p122 (0132.jp2)
6アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000132557
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000967173
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000296871
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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