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ジルコニウムと酸素が共存したタングステン表面の研究

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著者

    • 佐藤, 英樹 サトウ, ヒデキ

書誌事項

タイトル

ジルコニウムと酸素が共存したタングステン表面の研究

著者名

佐藤, 英樹

著者別名

サトウ, ヒデキ

学位授与大学

室蘭工業大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第57号

学位授与年月日

1996-03-22

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / p1 (0003.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0006.jp2)
  3. 1-1 本研究の背景 / p1 (0006.jp2)
  4. 1-2 ZrO/W(100)表面の研究 / p7 (0012.jp2)
  5. 1-3 本研究の目的 / p8 (0013.jp2)
  6. 第2章 ZrO/W(100)表面の形成 / p10 (0015.jp2)
  7. 2-1 緒言 / p10 (0015.jp2)
  8. 2-2 実験装置および試料 / p11 (0016.jp2)
  9. 2-3 ZrO/W(100)表面形成実験 / p17 (0022.jp2)
  10. 2-4 不純物による影響 / p26 (0031.jp2)
  11. 2-5 酸素導入を行わない場合の変化 / p29 (0034.jp2)
  12. 2-6 結言 / p32 (0037.jp2)
  13. 第3章 ZrO/W(100)表面形成過程の検討 / p33 (0038.jp2)
  14. 3-1 緒言 / p33 (0038.jp2)
  15. 3-2 酸素中加熱の経過時間による表面状態の変化 / p34 (0039.jp2)
  16. 3-3 超高真空中フラッシング温度依存性 / p42 (0047.jp2)
  17. 3-4 超高真空中でのフラッシング時間依存性 / p50 (0055.jp2)
  18. 3-5 結言 / p56 (0061.jp2)
  19. 第4章 ZrO/W(100)表面の深さ方向分析 / p58 (0063.jp2)
  20. 4-1 緒言 / p58 (0063.jp2)
  21. 4-2 Arイオンエッチングによる深さ方向分析 / p58 (0063.jp2)
  22. 4-3 角度依存性測定法による深さ方向分析 / p65 (0070.jp2)
  23. 4-4 結言 / p73 (0078.jp2)
  24. 第5章 ZrO/W(100)表面の諸性質 / p75 (0080.jp2)
  25. 5-1 緒言 / p75 (0080.jp2)
  26. 5-2 ZrO/W(100)表面形成の再現性 / p75 (0080.jp2)
  27. 5-3 ZrO/W(100)表面の酸素吸着による影響 / p78 (0083.jp2)
  28. 5-4 ZrO/W(100)表面の高温における組成 / p81 (0086.jp2)
  29. 5-5 結言 / p82 (0087.jp2)
  30. 第6章 面方位依存性 / p83 (0088.jp2)
  31. 6-1 緒言 / p83 (0088.jp2)
  32. 6-2 実験手順 / p83 (0088.jp2)
  33. 6-3 実験結果 / p84 (0089.jp2)
  34. 6-4 考察 / p88 (0093.jp2)
  35. 6-5 結言 / p89 (0094.jp2)
  36. 第7章 ZrO/W(100)表面の仕事関数低下機構に関する考察 / p91 (0096.jp2)
  37. 7-1 緒言 / p91 (0096.jp2)
  38. 7-2 ZrO/W(100)表面形成過程に関する考察 / p91 (0096.jp2)
  39. 7-3 ZrO/W(l00)表面における仕事関数低下の原因 / p96 (0101.jp2)
  40. 7-4 タングステン(110)面におけるZr-O複合体形成 / p98 (0103.jp2)
  41. 7-5 結言 / p99 (0104.jp2)
  42. 第8章 結論 / p100 (0105.jp2)
  43. 付録A.タングステン,ジルコニウムおよび酸素の物性 / p102 (0107.jp2)
  44. 付録B-1.X線光電子分光法 / p103 (0108.jp2)
  45. 付録B-2.XPS分析の角度依存性 / p104 (0109.jp2)
  46. 付録C-1.低速電子回折 / p106 (0111.jp2)
  47. 付録C-2.二次元逆格子 / p108 (0113.jp2)
  48. 付録C-3.Woodの表記法 / p109 (0114.jp2)
  49. 付録C-4.LEEDパターンを実空間像へ変換する方法 / p110 (0115.jp2)
  50. 付録D.二次電子を用いた仕事関数測定法 / p112 (0117.jp2)
  51. 参考文献 / p114 (0119.jp2)
  52. 謝辞 / p116 (0121.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000133102
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000967676
  • DOI(NDL)
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000000297416
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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