電子機器構成素子の設計限界に関する研究

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著者

    • 露崎, 典平 ツユザキ, ノリヨシ

書誌事項

タイトル

電子機器構成素子の設計限界に関する研究

著者名

露崎, 典平

著者別名

ツユザキ, ノリヨシ

学位授与大学

茨城大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第16号

学位授与年月日

1996-03-26

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / (0007.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0008.jp2)
  3. 参考文献 / p4 (0010.jp2)
  4. 第2章 自然対流下の半導体基板の伝熱特性 / p8 (0012.jp2)
  5. 2・1 緒言 / p8 (0012.jp2)
  6. 2・2 実験装置と測定方法 / p8 (0012.jp2)
  7. 2・3 実験結果 / p9 (0012.jp2)
  8. 2・4 結言 / p16 (0016.jp2)
  9. 参考文献 / p16 (0016.jp2)
  10. 第3章 電子機器の伝熱計測とその計測精度に関する定量評価 / p34 (0027.jp2)
  11. 3・1 緒言 / p34 (0027.jp2)
  12. 3・2 実験装置と測定方法 / p35 (0027.jp2)
  13. 3・3 実験結果 / p36 (0028.jp2)
  14. 3・4 結言 / p40 (0030.jp2)
  15. 参考文献 / p41 (0030.jp2)
  16. 第4章 赤外発光LEDの温度と熱解析 / p56 (0038.jp2)
  17. 4・1 緒言 / p56 (0038.jp2)
  18. 4・2 実験装置と実験方法 / p57 (0039.jp2)
  19. 4・3 実験結果 / p57 (0039.jp2)
  20. 4.4 結言 / p60 (0040.jp2)
  21. 参考文献 / p61 (0041.jp2)
  22. 第5章 確率設定を可能にするランダムパルス発生器の特性 / p72 (0048.jp2)
  23. 5・1 緒言 / p72 (0048.jp2)
  24. 5.2 ランダムパルス発生器の原理 / p73 (0049.jp2)
  25. 5.3 α線検出器の選定 / p74 (0049.jp2)
  26. 5・4 α線の計測 / p76 (0050.jp2)
  27. 5・5 確率の設定方法 / p76 (0050.jp2)
  28. 5・6 回路構成 / p78 (0051.jp2)
  29. 5・7 静電耐圧 / p78 (0051.jp2)
  30. 5・8 結言 / p79 (0052.jp2)
  31. 考文献 / p80 (0052.jp2)
  32. 第6章 まとめ / p91 (0058.jp2)
  33. 謝辞 / p92 (0059.jp2)
  34. 参考文献 / p93 (0059.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000133349
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000967913
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000297663
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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