電子機器構成素子の設計限界に関する研究
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Bibliographic Information
- Title
-
電子機器構成素子の設計限界に関する研究
- Author
-
露崎, 典平
- Author(Another name)
-
ツユザキ, ノリヨシ
- University
-
茨城大学
- Types of degree
-
博士 (工学)
- Grant ID
-
甲第16号
- Degree year
-
1996-03-26
Note and Description
博士論文
Table of Contents
- 目次 / (0007.jp2)
- 第1章 序論 / p1 (0008.jp2)
- 参考文献 / p4 (0010.jp2)
- 第2章 自然対流下の半導体基板の伝熱特性 / p8 (0012.jp2)
- 2･1 緒言 / p8 (0012.jp2)
- 2･2 実験装置と測定方法 / p8 (0012.jp2)
- 2･3 実験結果 / p9 (0012.jp2)
- 2･4 結言 / p16 (0016.jp2)
- 参考文献 / p16 (0016.jp2)
- 第3章 電子機器の伝熱計測とその計測精度に関する定量評価 / p34 (0027.jp2)
- 3･1 緒言 / p34 (0027.jp2)
- 3･2 実験装置と測定方法 / p35 (0027.jp2)
- 3･3 実験結果 / p36 (0028.jp2)
- 3･4 結言 / p40 (0030.jp2)
- 参考文献 / p41 (0030.jp2)
- 第4章 赤外発光LEDの温度と熱解析 / p56 (0038.jp2)
- 4･1 緒言 / p56 (0038.jp2)
- 4･2 実験装置と実験方法 / p57 (0039.jp2)
- 4･3 実験結果 / p57 (0039.jp2)
- 4.4 結言 / p60 (0040.jp2)
- 参考文献 / p61 (0041.jp2)
- 第5章 確率設定を可能にするランダムパルス発生器の特性 / p72 (0048.jp2)
- 5･1 緒言 / p72 (0048.jp2)
- 5.2 ランダムパルス発生器の原理 / p73 (0049.jp2)
- 5.3 α線検出器の選定 / p74 (0049.jp2)
- 5･4 α線の計測 / p76 (0050.jp2)
- 5･5 確率の設定方法 / p76 (0050.jp2)
- 5･6 回路構成 / p78 (0051.jp2)
- 5･7 静電耐圧 / p78 (0051.jp2)
- 5･8 結言 / p79 (0052.jp2)
- 考文献 / p80 (0052.jp2)
- 第6章 まとめ / p91 (0058.jp2)
- 謝辞 / p92 (0059.jp2)
- 参考文献 / p93 (0059.jp2)
