放射線測定法及びその応用に関する研究

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著者

    • 寺西, 一夫 テラニシ, カズオ

書誌事項

タイトル

放射線測定法及びその応用に関する研究

著者名

寺西, 一夫

著者別名

テラニシ, カズオ

学位授与大学

茨城大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第17号

学位授与年月日

1996-03-26

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 学位論文要旨 / p5 (0005.jp2)
  2. 目次 / p9 (0007.jp2)
  3. 第1章 序論 / p1 (0008.jp2)
  4. 1.1 放射線と放射線測定 / p1 (0008.jp2)
  5. 1.2 γ線を用いた測定 / p2 (0009.jp2)
  6. 1.3 α線を用いた測定 / p6 (0011.jp2)
  7. 1.4 中性子を用いた測定 / p8 (0012.jp2)
  8. 1.5 本論文の構成 / p9 (0012.jp2)
  9. 第2章 γ線ピーク面積の決定 / p10 (0013.jp2)
  10. 2.1 緒言 / p10 (0013.jp2)
  11. 2.2 ピーク面積の決定方法 / p13 (0014.jp2)
  12. 2.3 ピーク面積の決定結果 / p30 (0023.jp2)
  13. 2.4 ピーク面積決定結果の検討 / p32 (0024.jp2)
  14. 2.5結言 / p36 (0026.jp2)
  15. 第3章 α線を用いた高分子薄膜の厚さ測定 / p38 (0027.jp2)
  16. 3.1 緒言 / p38 (0027.jp2)
  17. 3.2 高分子薄膜の厚さの測定方法 / p39 (0027.jp2)
  18. 3.3 高分子薄膜の厚さの測定結果 / p41 (0028.jp2)
  19. 3.4 結果の検討 / p42 (0029.jp2)
  20. 3.5 結言 / p49 (0032.jp2)
  21. 第4章 14MeV中性子による放射化分析 / p51 (0033.jp2)
  22. 4.1 緒言 / p51 (0033.jp2)
  23. 4.2 放射化分析における酸素の分析方法 / p52 (0034.jp2)
  24. 4.3 酸素の分析結果 / p54 (0035.jp2)
  25. 4.4 酸素の分析結果の検討 / p57 (0036.jp2)
  26. 4.5 結言 / p60 (0038.jp2)
  27. 第5章 結論 / p62 (0039.jp2)
  28. 5.1 γ線ピーク面積の決定 / p62 (0039.jp2)
  29. 5.2 α線を用いた高分子薄膜の厚さ測定 / p64 (0040.jp2)
  30. 5.3 14MeV中性子による放射化分析 / p65 (0040.jp2)
  31. 5.4 今後の課題 / p65 (0040.jp2)
  32. 参考文献 / p67 (0041.jp2)
  33. 謝辞 / p72 (0044.jp2)
  34. 本研究に関する筆者発表論文 / p74 (0045.jp2)
  35. 図(Figures) / p77 (0046.jp2)
  36. 表(Tables) / p111 (0063.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000133350
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000967914
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000297664
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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