放射線測定法及びその応用に関する研究
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Bibliographic Information
- Title
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放射線測定法及びその応用に関する研究
- Author
-
寺西, 一夫
- Author(Another name)
-
テラニシ, カズオ
- University
-
茨城大学
- Types of degree
-
博士 (工学)
- Grant ID
-
甲第17号
- Degree year
-
1996-03-26
Note and Description
博士論文
Table of Contents
- 学位論文要旨 / p5 (0005.jp2)
- 目次 / p9 (0007.jp2)
- 第1章 序論 / p1 (0008.jp2)
- 1.1 放射線と放射線測定 / p1 (0008.jp2)
- 1.2 γ線を用いた測定 / p2 (0009.jp2)
- 1.3 α線を用いた測定 / p6 (0011.jp2)
- 1.4 中性子を用いた測定 / p8 (0012.jp2)
- 1.5 本論文の構成 / p9 (0012.jp2)
- 第2章 γ線ピーク面積の決定 / p10 (0013.jp2)
- 2.1 緒言 / p10 (0013.jp2)
- 2.2 ピーク面積の決定方法 / p13 (0014.jp2)
- 2.3 ピーク面積の決定結果 / p30 (0023.jp2)
- 2.4 ピーク面積決定結果の検討 / p32 (0024.jp2)
- 2.5結言 / p36 (0026.jp2)
- 第3章 α線を用いた高分子薄膜の厚さ測定 / p38 (0027.jp2)
- 3.1 緒言 / p38 (0027.jp2)
- 3.2 高分子薄膜の厚さの測定方法 / p39 (0027.jp2)
- 3.3 高分子薄膜の厚さの測定結果 / p41 (0028.jp2)
- 3.4 結果の検討 / p42 (0029.jp2)
- 3.5 結言 / p49 (0032.jp2)
- 第4章 14MeV中性子による放射化分析 / p51 (0033.jp2)
- 4.1 緒言 / p51 (0033.jp2)
- 4.2 放射化分析における酸素の分析方法 / p52 (0034.jp2)
- 4.3 酸素の分析結果 / p54 (0035.jp2)
- 4.4 酸素の分析結果の検討 / p57 (0036.jp2)
- 4.5 結言 / p60 (0038.jp2)
- 第5章 結論 / p62 (0039.jp2)
- 5.1 γ線ピーク面積の決定 / p62 (0039.jp2)
- 5.2 α線を用いた高分子薄膜の厚さ測定 / p64 (0040.jp2)
- 5.3 14MeV中性子による放射化分析 / p65 (0040.jp2)
- 5.4 今後の課題 / p65 (0040.jp2)
- 参考文献 / p67 (0041.jp2)
- 謝辞 / p72 (0044.jp2)
- 本研究に関する筆者発表論文 / p74 (0045.jp2)
- 図(Figures) / p77 (0046.jp2)
- 表(Tables) / p111 (0063.jp2)