二酸化炭素の電気化学的固定化に関する研究

この論文をさがす

著者

    • 白土, 竜一 シラツチ, リュウイチ

書誌事項

タイトル

二酸化炭素の電気化学的固定化に関する研究

著者名

白土, 竜一

著者別名

シラツチ, リュウイチ

学位授与大学

九州工業大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

乙第43号

学位授与年月日

1996-03-25

注記・抄録

博士論文

九州工業大学博士学位論文 学位記番号:工博乙第43号 学位授与年月日:平成8年3月25日

平成7年度

目次

  1. 目次 / p1 (0003.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0006.jp2)
  3. 1-1 はじめに / p1 (0006.jp2)
  4. 1-2 二酸化炭素の電気化学還元 / p1 (0006.jp2)
  5. 1-3 半導体電極における二酸化炭素の電気化学還元 / p4 (0009.jp2)
  6. 1-4 最近の研究動向 / p6 (0011.jp2)
  7. 1-5 太陽電池と透明導電膜 / p7 (0012.jp2)
  8. 1-6 本研究の目的と展開 / p9 (0014.jp2)
  9. 第2章 試料調整及び実験方法 / p12 (0017.jp2)
  10. 2-1 CO₂の電気化学還元実験方法 / p12 (0017.jp2)
  11. 2-2 電極材料 / p15 (0020.jp2)
  12. 2-3 電極の表面分析 / p17 (0022.jp2)
  13. 第3章 金属酸化物電極における二酸化炭素の電気化学還元 / p19 (0024.jp2)
  14. 3-1 はじめに / p19 (0024.jp2)
  15. 3-2 SnO₂とTiO₂電極におけるCO₂の電気化学還元特性 / p20 (0025.jp2)
  16. 3-3 電極表面の測色評価 / p23 (0028.jp2)
  17. 3-4 XPSによる電極の評価 / p25 (0030.jp2)
  18. 3-5 SnO₂膜におけるCO₂の還元過程 / p29 (0034.jp2)
  19. 3-6 SnO₂膜の電極安定性 / p32 (0037.jp2)
  20. 3-7 まとめ / p36 (0041.jp2)
  21. 第4章 過渡電流による二酸化炭素還元メカニズムの検討 / p38 (0043.jp2)
  22. 4-1 はじめに / p38 (0043.jp2)
  23. 4-2 ポテンシャルスイープ法 / p39 (0044.jp2)
  24. 4-3 ポテンシャルステップ法 / p41 (0046.jp2)
  25. 4-4 電極反応メカニズム / p46 (0051.jp2)
  26. 4-5 反応速度方程式 / p49 (0054.jp2)
  27. 4-6 まとめ / p52 (0057.jp2)
  28. 第5章 Cu電極における二酸化炭素のパルス電解と評価 / p53 (0058.jp2)
  29. 5-1 はじめに / p53 (0058.jp2)
  30. 5-2 パルス電位と時間の設定 / p53 (0058.jp2)
  31. 5-3 長時間パルス電解 / p55 (0060.jp2)
  32. 5-4 電極の表面分析 / p59 (0064.jp2)
  33. 5-5 Cu電極におけるパルス電解の有効性 / p63 (0068.jp2)
  34. 5-6 まとめ / p64 (0069.jp2)
  35. 第6章 Cu電極におけるパルス電解による反応生成物の選択化 / p65 (0070.jp2)
  36. 6-1 はじめに / p65 (0070.jp2)
  37. 6-2 バイアスの最適化 / p65 (0070.jp2)
  38. 6-3 セル温度の最適化 / p71 (0076.jp2)
  39. 6-4 パルス電解の反応メカニズム / p71 (0076.jp2)
  40. 6-5 まとめ / p73 (0078.jp2)
  41. 第7章 Ag電極におけるパルス電解による炭化水素の合成 / p74 (0079.jp2)
  42. 7-1 はじめに / p74 (0079.jp2)
  43. 7-2 定電位電解とパルス電解の比較 / p76 (0081.jp2)
  44. 7-3 パルス電解による炭化水素の安定生成 / p81 (0086.jp2)
  45. 7-4 Ag電極上でのパルス電解反応過程 / p84 (0089.jp2)
  46. 7-5 まとめ / p89 (0094.jp2)
  47. 第8章 結論 / p90 (0095.jp2)
  48. 謝辞 / p92 (0097.jp2)
  49. 参考文献 / p93 (0098.jp2)
5アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000133892
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000973088
  • DOI(NDL)
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000000298206
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
ページトップへ