Improved device structures and circuit applications of resonant-tunneling hot electron transistors (RHETs) 共鳴トンネルホットエレクトロントランジスタ(RHET)の素子構造の改善と回路応用に関する研究

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著者

    • 森, 俊彦 モリ, トシヒコ

書誌事項

タイトル

Improved device structures and circuit applications of resonant-tunneling hot electron transistors (RHETs)

タイトル別名

共鳴トンネルホットエレクトロントランジスタ(RHET)の素子構造の改善と回路応用に関する研究

著者名

森, 俊彦

著者別名

モリ, トシヒコ

学位授与大学

大阪大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

乙第6977号

学位授与年月日

1996-06-27

注記・抄録

博士論文

12645

博士(工学)

1996-06-27

大阪大学

14401乙第06977号

目次

  1. CONTENTS / p6 (0006.jp2)
  2. CHAPTER 1 Introduction / p1 (0007.jp2)
  3. 1.1 Background / p1 (0007.jp2)
  4. 1.2 Previous Work on RHET / p1 (0007.jp2)
  5. 1.3 Objective of This Study / p5 (0009.jp2)
  6. 1.4 Contents of This study / p5 (0009.jp2)
  7. References / p8 (0011.jp2)
  8. CHAPTER 2 Characterization of the RHET / p10 (0012.jp2)
  9. 2.1 Introduction / p10 (0012.jp2)
  10. 2.2 Characterization of the RHET Operated at Room Temperature / p12 (0013.jp2)
  11. 2.3 Microwave Measurement at Low Temperature / p17 (0015.jp2)
  12. 2.4 DC and Microwave Characteristics of the RHET with a New Collector Barrier Structure / p21 (0017.jp2)
  13. 2.5 Discussion / p30 (0022.jp2)
  14. 2.6 Summary / p32 (0023.jp2)
  15. References / p34 (0024.jp2)
  16. CHAPTER 3 Circuit Application of the Conventional RHET / p37 (0025.jp2)
  17. 3.1 Introduction / p37 (0025.jp2)
  18. 3.2 Elementally Logic Gates and Circuits / p38 (0026.jp2)
  19. 3.3 Full-Adder / p41 (0027.jp2)
  20. 3.4 Latch / p41 (0027.jp2)
  21. 3.5 Frequency Divider / p42 (0028.jp2)
  22. 3.6 Experimental Results / p45 (0029.jp2)
  23. 3.7 Summary / p49 (0031.jp2)
  24. References / p50 (0032.jp2)
  25. CHAPTER 4 Development and Application of the Multi-Emitter RHET / p51 (0032.jp2)
  26. 4.1 Introduction / p51 (0032.jp2)
  27. 4.2 Structure and Operation of the Multi-Emitter RHET / p52 (0033.jp2)
  28. 4.3 Logic Circuits of the Multi-Emitter RHET / p54 (0034.jp2)
  29. 4.4 Memory Circuits of the Multi-Emitter RHET / p62 (0038.jp2)
  30. 4.5 New RHET Structure for Future Multi-Emitter RHET Applications / p73 (0043.jp2)
  31. 4.6 Summary / p76 (0045.jp2)
  32. References / p78 (0046.jp2)
  33. CHAPTER 5 Conclusion / p80 (0047.jp2)
  34. Acknowledgments / p83 (0048.jp2)
  35. Publication Lists / p84 (0049.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000133992
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000973109
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000298306
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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