溶接残留応力場における塑性変形挙動の赤外線サーモグラフィーによる非接触評価

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著者

    • 土井, 猛志 ドイ, タケシ

書誌事項

タイトル

溶接残留応力場における塑性変形挙動の赤外線サーモグラフィーによる非接触評価

著者名

土井, 猛志

著者別名

ドイ, タケシ

学位授与大学

熊本大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第40号

学位授与年月日

1996-03-26

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / p1 (0003.jp2)
  2. 第1章 緒論 / p1 (0006.jp2)
  3. 1.1 はじめに / p1 (0006.jp2)
  4. 1.2 き裂を有する溶接材の変形・破壊挙動に関する既往の研究 / p2 (0007.jp2)
  5. 1.3 塑性変形評価に関する既往の研究 / p3 (0008.jp2)
  6. 1.4 本研究の目的および方法 / p4 (0009.jp2)
  7. 1.5 各章の概要 / p5 (0010.jp2)
  8. 第2章 赤外線サーモグラフィーによる塑性変形評価システム / p7 (0012.jp2)
  9. 2.1 緒言 / p7 (0012.jp2)
  10. 2.2 赤外線サーモグラフィーについて / p7 (0012.jp2)
  11. 2.3 測定前の主な準備事項 / p10 (0015.jp2)
  12. 2.4 赤外線サーモグラフィーに関する測定システム / p12 (0017.jp2)
  13. 2.5 熱画像の処理方法 / p13 (0018.jp2)
  14. 2.6 結言 / p16 (0021.jp2)
  15. 第3章 き裂線が溶接線に垂直な場合の変形挙動 / p17 (0022.jp2)
  16. 3.1 緒言 / p17 (0022.jp2)
  17. 3.2 試験片 / p17 (0022.jp2)
  18. 3.3 供試材の機械的特性 / p21 (0026.jp2)
  19. 3.4 溶接残留応力 / p23 (0028.jp2)
  20. 3.5 変形挙動の測定システム / p25 (0030.jp2)
  21. 3.6 試験片表面の温度分布に及ぼす残留応力の影響 / p27 (0032.jp2)
  22. 3.7 変形挙動の解析 / p40 (0045.jp2)
  23. 3.8 き裂開口変位に及ぼす残留応力の影響 / p49 (0054.jp2)
  24. 3.9 結言 / p50 (0055.jp2)
  25. 第4章 き裂線が溶接線に平行な場合の変形挙動 / p51 (0056.jp2)
  26. 4.1 緒言 / p51 (0056.jp2)
  27. 4.2 試験片 / p51 (0056.jp2)
  28. 4.3 供試材の機械的特性 / p54 (0059.jp2)
  29. 4.4 溶接残留応力 / p56 (0061.jp2)
  30. 4.5 変形挙動の測定システム / p60 (0065.jp2)
  31. 4.6 試験片表面の温度分布に及ぼす残留応力の影響 / p60 (0065.jp2)
  32. 4.7 変形挙動の解析 / p68 (0073.jp2)
  33. 4.8 き裂開口変位に及ぼす残留応力の影響 / p81 (0086.jp2)
  34. 4.9 結言 / p82 (0087.jp2)
  35. 第5章 き裂を有する溶接材の変形挙動に及ぼす諸因子の影響 / p83 (0088.jp2)
  36. 5.1 緒言 / p83 (0088.jp2)
  37. 5.2 解析モデル / p83 (0088.jp2)
  38. 5.3 応力・ひずみ分布に及ぼす影響 / p85 (0090.jp2)
  39. 5.4 き裂の開口変位挙動に及ばす影響 / p103 (0108.jp2)
  40. 5.5 結言 / p106 (0111.jp2)
  41. 第6章 赤外線サーモグラフィーによる塑性変形挙動の定量的評価に関する考察 / p107 (0112.jp2)
  42. 6.1 緒言 / p107 (0112.jp2)
  43. 6.2 測定システムに起因する定量的評価の問題点について / p107 (0112.jp2)
  44. 6.3 温度上昇測定結果と数値解析結果の定量的な比較における課題 / p112 (0117.jp2)
  45. 6.4 結言 / p114 (0119.jp2)
  46. 第7章 総括 / p116 (0121.jp2)
  47. 謝辞 / p120 (0125.jp2)
  48. 参考文献 / p121 (0126.jp2)
3アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000134104
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000973216
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000298418
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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