計測制御システムの電磁ノイズに対する応答特性とその低減法

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著者

    • 前花, 芳夫 マエハナ, ヨシオ

書誌事項

タイトル

計測制御システムの電磁ノイズに対する応答特性とその低減法

著者名

前花, 芳夫

著者別名

マエハナ, ヨシオ

学位授与大学

東京農工大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

博工甲第124号

学位授与年月日

1996-03-25

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / p1 (0003.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0005.jp2)
  3. 1.1 本研究の背景 / p1 (0005.jp2)
  4. 1.2 本研究の目的 / p2 (0006.jp2)
  5. 1.3 本論文の構成 / p9 (0009.jp2)
  6. 1.4 参考文献 / p13 (0011.jp2)
  7. 第2章 瞬時停電を検出する停電検出方式 / p14 (0012.jp2)
  8. 2.1 はじめに / p14 (0012.jp2)
  9. 2.2 停電検出方式に要求される機能 / p16 (0013.jp2)
  10. 2.3 停電検出方式と比較回路 / p20 (0015.jp2)
  11. 2.4 停電検出回路の特性評価 / p27 (0018.jp2)
  12. 2.5 むすび / p35 (0022.jp2)
  13. 2.6 参考文献 / p37 (0023.jp2)
  14. 第3章 強電磁界ノイズに曝される計測制御システムの耐ノイズ設計法 / p38 (0024.jp2)
  15. 3.1 はじめに / p38 (0024.jp2)
  16. 3.2 大型変圧器計測制御システムの構成 / p39 (0024.jp2)
  17. 3.3 ノイズ発生源および進入経路 / p39 (0024.jp2)
  18. 3.4 ノイズ発生源とノイズ強度 / p43 (0026.jp2)
  19. 3.5 金属板によるシールド効果 / p50 (0030.jp2)
  20. 3.6 金属接合部におけるネジ止め間隔とシールド効果 / p56 (0033.jp2)
  21. 3.7 シールド効果の評価 / p57 (0033.jp2)
  22. 3.8 キャビネットの設計法 / p65 (0037.jp2)
  23. 3.9 強電磁界ノイズに対するその他のノイズ対策 / p66 (0038.jp2)
  24. 3.10 むすび / p67 (0038.jp2)
  25. 3.11 参考文献 / p71 (0040.jp2)
  26. 第4章 商用周波磁界ノイズに対するCRTのシールド設計法 / p73 (0041.jp2)
  27. 4.1 はじめに / p73 (0041.jp2)
  28. 4.2 磁界強度と揺れの大きさ / p73 (0041.jp2)
  29. 4.3 揺れのメカニズム / p80 (0045.jp2)
  30. 4.4 人間工学に基づく揺れの許容限界 / p84 (0047.jp2)
  31. 4.5 商用周波外部磁界の低減技術 / p87 (0048.jp2)
  32. 4.6 実験による検証 / p95 (0052.jp2)
  33. 4.7 むすび / p98 (0054.jp2)
  34. 4.8 参考文献 / p99 (0054.jp2)
  35. 第5章 保護遮蔽付絶縁増幅器のCMRR過渡特性 / p100 (0055.jp2)
  36. 5.1 はじめに / p100 (0055.jp2)
  37. 5.2 保護遮蔽付往縁増幅器 / p101 (0055.jp2)
  38. 5.3 アナログ入力システムの等価回路 / p102 (0056.jp2)
  39. 5.4 アナログ入力システムのCMRR特性 / p110 (0060.jp2)
  40. 5.5 実験による検証 / p121 (0065.jp2)
  41. 5.6 むすび / p128 (0069.jp2)
  42. 5.7 参考文献 / p130 (0070.jp2)
  43. 第6章 対撚線の容量結合ノイズ低減効果 / p131 (0070.jp2)
  44. 6.1 はじめに / p131 (0070.jp2)
  45. 6.2 対撚線の容量結合モデル / p133 (0071.jp2)
  46. 6.3 容量結合に対するノイズ低減効果 / p139 (0074.jp2)
  47. 6.4 実験モデル / p146 (0078.jp2)
  48. 6.5 容量結合ノイズ低減効果の実験による検証 / p151 (0080.jp2)
  49. 6.6 むすび / p156 (0083.jp2)
  50. 6.7 参考文献 / p157 (0083.jp2)
  51. 第7章 総括 / p158 (0084.jp2)
  52. 本研究論文に関する著者の発表論文 / p162 (0086.jp2)
  53. 謝辞 / p164 (0087.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000134543
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000973642
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000298857
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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