【12/14(木)17時より】CiNiiの常時SSL化(HTTPS接続)について

A study of loading effect on A. C. potential drop for a crack き裂に対する交流電位差に及ぼす荷重の影響に関する研究

この論文をさがす

著者

    • 李, 正煕 Lee, Jeong Hee

書誌事項

タイトル

A study of loading effect on A. C. potential drop for a crack

タイトル別名

き裂に対する交流電位差に及ぼす荷重の影響に関する研究

著者名

李, 正煕

著者別名

Lee, Jeong Hee

学位授与大学

東北大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第5583号

学位授与年月日

1996-03-26

注記・抄録

博士論文

目次

  1. Contents / p1 (0004.jp2)
  2. Chapter1 Introduction / p1 (0006.jp2)
  3. References / p11 (0016.jp2)
  4. Chapter2 Model of the Change in Potential Drop Due to Load / p13 (0018.jp2)
  5. 2.1 Introduction / p13 (0018.jp2)
  6. 2.2 Model of the Change in ACPD Due to Load for the Case Without Magnetic Flux / p14 (0019.jp2)
  7. 2.3 Model of the Change in ACPD Due to Load for the Case With a Large Amount of Magnetic Flux / p23 (0028.jp2)
  8. 2.4 Conclusion / p28 (0033.jp2)
  9. References / p30 (0035.jp2)
  10. Chapter3 Method of Experiment / p32 (0037.jp2)
  11. 3.1 Introduction / p32 (0037.jp2)
  12. 3.2 Specimen / p33 (0038.jp2)
  13. 3.3 Experimental Setup and Measuring System / p34 (0039.jp2)
  14. 3.4 Experimental Procedure / p43 (0048.jp2)
  15. 3.5 Conclusion / p49 (0054.jp2)
  16. References / p52 (0057.jp2)
  17. Chapter4 Experimental Results / p53 (0058.jp2)
  18. 4.1 Introduction / p53 (0058.jp2)
  19. 4.2 Change in Potential Drop Due to Load in Ferromagnetic Material / p53 (0058.jp2)
  20. 4.3 Change in Potential Drop Due to Load in Paramagnetic Material / p59 (0064.jp2)
  21. 4.4 Conclusion / p64 (0069.jp2)
  22. Reference / p70 (0075.jp2)
  23. Chapter5 Model and Experiment / p71 (0076.jp2)
  24. 5.1 Introduction / p71 (0076.jp2)
  25. 5.2 Explanation of the Experimental Results Based on the Model / p71 (0076.jp2)
  26. 5.3 Conclusion / p76 (0081.jp2)
  27. References / p77 (0082.jp2)
  28. Chapter6 Application of the ACPD Technique to the Experimental Determination of Kı / p78 (0083.jp2)
  29. 6.1 Introduction / p78 (0083.jp2)
  30. 6.2 Procedure of Application and Necessary Conditions Required for the Measuring System / p79 (0084.jp2)
  31. 6.3 Conclusion / p80 (0085.jp2)
  32. References / p82 (0087.jp2)
  33. Chapter7 Conclusions / p83 (0088.jp2)
  34. Acknowledgments / p86 (0091.jp2)
0アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000134833
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000973915
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000299147
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
ページトップへ