液晶分子の配向機構とその制御に関する研究

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著者

    • 韓, 官栄 Han, Kwan Young

書誌事項

タイトル

液晶分子の配向機構とその制御に関する研究

著者名

韓, 官栄

著者別名

Han, Kwan Young

学位授与大学

東北大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第5626号

学位授与年月日

1996-03-26

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / (0004.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0006.jp2)
  3. 第2章 基板表面における液晶のプレティルト角の測定 / p7 (0012.jp2)
  4. 2.1 まえがき / p7 (0012.jp2)
  5. 2.2 従来のプレティルト角の測定法 / p9 (0014.jp2)
  6. 2.3 従来測定法の問題点 / p18 (0023.jp2)
  7. 2.4 セルギャップの不均一性の影響を改善した測定方法 / p30 (0035.jp2)
  8. 2.5 測定範囲及びセルギャップの制約のない新しい測定法の提案 / p39 (0044.jp2)
  9. 2.6 まとめ / p71 (0076.jp2)
  10. 第3章 高分子膜の表面処理による液晶の分子配向 / p73 (0078.jp2)
  11. 3.1 まえがき / p73 (0078.jp2)
  12. 3.2 ラビング強度の定量化 / p77 (0082.jp2)
  13. 3.3 液晶のプレティルトの発生機構 / p78 (0083.jp2)
  14. 3.4 まとめ / p120 (0125.jp2)
  15. 第4章 液晶分子配向の熱処理効果 / p124 (0129.jp2)
  16. 4.1 まえがき / p124 (0129.jp2)
  17. 4.2 液晶プレティルト角の温度依存性 / p124 (0129.jp2)
  18. 4.3 高分子配向膜の熱処理効果 / p128 (0133.jp2)
  19. 4.4 液晶セル作製後の熱処理の影響 / p136 (0141.jp2)
  20. 4.5 熱処理前後の高分子の配向と液晶分子配向 / p139 (0144.jp2)
  21. 4.6 まとめ / p147 (0152.jp2)
  22. 第5章 結論 / p149 (0154.jp2)
  23. 参考文献 / p152 (0157.jp2)
  24. 謝辞 / p156 (0161.jp2)
  25. 発表論文目録 / p158 (0163.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000134876
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000973956
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000299190
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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