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M系列相関を用いる論理回路の故障診断の研究 Mケイレツ ソウカン オ モチイル ロンリ カイロ ノ コショウ シンダン ノ ケンキュウ

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著者

    • 宮田, 千加良 ミヤタ, チカラ

書誌事項

タイトル

M系列相関を用いる論理回路の故障診断の研究

タイトル別名

Mケイレツ ソウカン オ モチイル ロンリ カイロ ノ コショウ シンダン ノ ケンキュウ

著者名

宮田, 千加良

著者別名

ミヤタ, チカラ

学位授与大学

熊本大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第54号

学位授与年月日

1997-03-25

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / (0003.jp2)
  2. 1 緒論 / p1 (0005.jp2)
  3. 1.1 論理回路の故障検査 / p1 (0005.jp2)
  4. 1.2 ランダム信号を用いる故障診断に関する従来の研究 / p3 (0007.jp2)
  5. 1.3 特定のテスト信号を用いる故障診断に関する従来の動向 / p6 (0010.jp2)
  6. 1.4 本研究について / p12 (0016.jp2)
  7. 2 M系列 / p14 (0018.jp2)
  8. 2.1 M系列とは / p14 (0018.jp2)
  9. 2.2 故障診断に用いるM系列の性質 / p17 (0021.jp2)
  10. 3 M系列相関関数とAND・OR回路との関係 / p20 (0024.jp2)
  11. 3.1 はじめに / p20 (0024.jp2)
  12. 3.2 AND・OR回路のM系列相関関数 / p21 (0025.jp2)
  13. 3.3 任意の論理回路における相関値 / p29 (0033.jp2)
  14. 3.4 相関値列を用いた論理回路の論理構造の推定 / p31 (0035.jp2)
  15. 3.5 まとめ / p32 (0036.jp2)
  16. 4 等価入力グルーピンク(Input Grouping) / p33 (0037.jp2)
  17. 4.1 はじめに / p33 (0037.jp2)
  18. 4.2 M系列相関値と関与入力との関係 / p35 (0039.jp2)
  19. 4.3 M系列相関値と等価入力との関係 / p42 (0046.jp2)
  20. 4.4 数値的検証 / p44 (0048.jp2)
  21. 4.5 本方法の故障識別能力に関する数値的検証 / p46 (0050.jp2)
  22. 4.6 まとめ / p48 (0052.jp2)
  23. 4.7 付録 / p49 (0053.jp2)
  24. 5 IGを一部の相関関数からの算出した場合(〔数式〕)の誤り率 / p52 (0056.jp2)
  25. 5.1 はじめに / p52 (0056.jp2)
  26. 5.2 相関値の数と等価入力グルーピング推定誤り率との関係 / p53 (0057.jp2)
  27. 5.3 まとめ / p68 (0072.jp2)
  28. 6 等価入力グルーピングを用いた故障診断 / p69 (0073.jp2)
  29. 6.1 はじめに / p69 (0073.jp2)
  30. 6.2 等価入力グルーピング(IG)を用いた故障診断法 / p70 (0074.jp2)
  31. 6.3 故障診断に〔数式〕を用いた場合の故障確率に関する理論的検討 / p72 (0076.jp2)
  32. 6.4 シミュレーション結果 / p82 (0086.jp2)
  33. 6.5 まとめ / p88 (0092.jp2)
  34. 7 結論 / p89 (0093.jp2)
  35. 謝辞 / p92 (0096.jp2)
  36. 参考文献 / p93 (0097.jp2)
  37. 公表論文 / p99 (0103.jp2)
1アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000150879
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000001061712
  • DOI(NDL)
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000000315193
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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