【12/14(木)17時より】CiNiiの常時SSL化(HTTPS接続)について

シングルモード光ファイバ用光コネクタの特性及び製造に関する研究

この論文をさがす

著者

    • 高橋, 光雄 タカハシ, ミツオ

書誌事項

タイトル

シングルモード光ファイバ用光コネクタの特性及び製造に関する研究

著者名

高橋, 光雄

著者別名

タカハシ, ミツオ

学位授与大学

静岡大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第165号

学位授与年月日

1997-12-22

注記・抄録

博士論文

doctoral

電子科学研究科

甲第165号

目次

  1. 目次 / p3 (0004.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0008.jp2)
  3. 1.1 研究の背景 / p1 (0008.jp2)
  4. 1.2 光コネクタの接続損失 / p3 (0009.jp2)
  5. 1.3 光コネクタ技術の変遷 / p12 (0014.jp2)
  6. 1.4 光ファイバ端面研磨技術の変遷 / p15 (0015.jp2)
  7. 1.5 APCコネクタの研究課題 / p19 (0017.jp2)
  8. 1.6 本研究の目的と構成 / p22 (0019.jp2)
  9. 第1章参考文献 / p24 (0020.jp2)
  10. 第2章 斜め球面成形研磨法及び研磨装置,並びに研磨特性 / p28 (0023.jp2)
  11. 2.1 まえがき / p28 (0023.jp2)
  12. 2.2 球面成形研磨法の理論 / p28 (0023.jp2)
  13. 2.3 弾性研磨盤による斜め球面成形研磨 / p34 (0026.jp2)
  14. 2.4 斜め球面成形研磨装置 / p37 (0028.jp2)
  15. 2.5 斜め球面成形研暦の評価実験 / p42 (0030.jp2)
  16. 2.6 評価実験結果の考察 / p56 (0037.jp2)
  17. 2.7 まとめ / p64 (0041.jp2)
  18. 第2章参考文献 / p66 (0042.jp2)
  19. 第3章 テーパ・フェルール付きAPCコネクタの解析‐1 フェルール回転角度φ=0度における接続特性 / p68 (0044.jp2)
  20. 3.1 まえがき / p68 (0044.jp2)
  21. 3.2 テーパ・フェルールの形状特性の理論解析 / p70 (0045.jp2)
  22. 3.3 テーパ・フェルールの接続特性の理論解析 / p84 (0052.jp2)
  23. 3.4 考察 / p87 (0054.jp2)
  24. 3.5 まとめ / p92 (0056.jp2)
  25. 第3章参考文献 / p95 (0058.jp2)
  26. 第4章 テーパ・フェルール付きAPCコネクタの解析-2 フェルール回転角度φ≧0度における接続特性 / p97 (0060.jp2)
  27. 4.1 まえがき / p97 (0060.jp2)
  28. 4.2 フェルール回転による形状特性の理論解析 / p98 (0061.jp2)
  29. 4.3 フェルール回転による接続特性の変化の理論解析 / p113 (0068.jp2)
  30. 4.4 考察 / p118 (0071.jp2)
  31. 4.5 まとめ / p123 (0073.jp2)
  32. 第4章参考文献 / p125 (0074.jp2)
  33. 第5章 ステップ・フェルール付きAPCコネクタの解析 フェルール回転角度φ≧O度における接続特性 / p127 (0076.jp2)
  34. 5.1 まえがき / p127 (0076.jp2)
  35. 5.2 ステップ・フェルールの形状 / p128 (0077.jp2)
  36. 5.3 ステップ・フェルール形状特性の理論解析 / p129 (0077.jp2)
  37. 5.4 フェルール回転による接続特性の理論解析 / p143 (0084.jp2)
  38. 5.5 考察 / p148 (0087.jp2)
  39. 5.6 まとめ / p153 (0089.jp2)
  40. 第5章参考文献 / p155 (0090.jp2)
  41. 第6章 APCコネクタの挿入損失の実験 / p157 (0092.jp2)
  42. 6.1 まえがき / p157 (0092.jp2)
  43. 6.2 フェルールの形状及び回転角度による挿入損失の比較 / p158 (0093.jp2)
  44. 6.3 ステップ・フェルールの回転角度と増加挿入喪失 / p173 (0100.jp2)
  45. 6.4 繰り返し着脱 / p178 (0103.jp2)
  46. 6.5 まとめ / p181 (0104.jp2)
  47. 第6章参考文献 / p183 (0105.jp2)
  48. 第7章 結言 / p184 (0107.jp2)
  49. 7.1 本論文のまとめ / p184 (0107.jp2)
  50. 7.2 本研究成果の実績と応用 / p189 (0110.jp2)
  51. 第7章参考文献 / p191 (0111.jp2)
  52. 本研究に関する発表論文 / p192 (0112.jp2)
  53. 本研究内容が採用されたIEC国際規格 / p193 (0113.jp2)
  54. 本研究に関連して取得したUSA特許 / p194 (0113.jp2)
  55. 付録 / p195 (0115.jp2)
  56. 謝辞 / p199 (0117.jp2)
1アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000153383
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000001087439
  • DOI(NDL)
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000000317697
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
ページトップへ