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CADリンク電子ビームテストシステムによるVLSIの故障追跡に関する研究 CAD リンク デンシ ビーム テスト システム ニヨル VLSI ノ コショウ ツイセキ ニ カンスル ケンキュウ

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著者

    • 三浦, 克介 ミウラ, カツヨシ

書誌事項

タイトル

CADリンク電子ビームテストシステムによるVLSIの故障追跡に関する研究

タイトル別名

CAD リンク デンシ ビーム テスト システム ニヨル VLSI ノ コショウ ツイセキ ニ カンスル ケンキュウ

著者名

三浦, 克介

著者別名

ミウラ, カツヨシ

学位授与大学

大阪大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

乙第7329号

学位授与年月日

1997-10-24

注記・抄録

博士論文

14401乙第07329号

博士(工学)

大阪大学

1997-10-24

13432

目次

  1. 目次 / p7 (0006.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0008.jp2)
  3. 第2章 CADリンクEBテストシステム / p7 (0011.jp2)
  4. 2.1 まえがき / p7 (0011.jp2)
  5. 2.2 システムの概要 / p7 (0011.jp2)
  6. 2.3 従来の故障追跡手法 / p17 (0016.jp2)
  7. 2.4 システムの問題点 / p19 (0017.jp2)
  8. 2.5 むすび / p21 (0018.jp2)
  9. 第3章 CADレイアウトからの逐次回路抽出 / p23 (0019.jp2)
  10. 3.1 まえがき / p23 (0019.jp2)
  11. 3.2 データ構造 / p24 (0020.jp2)
  12. 3.3 処理手順 / p28 (0022.jp2)
  13. 3.4 評価 / p30 (0023.jp2)
  14. 3.5 むすび / p32 (0024.jp2)
  15. 第4章 階層的故障追跡アルゴリズム / p34 (0025.jp2)
  16. 4.1 まえがき / p34 (0025.jp2)
  17. 4.2 回路からグラフへの変換 / p34 (0025.jp2)
  18. 4.3 基本的なアルゴリズム / p36 (0026.jp2)
  19. 4.4 測定不能配線への対処 / p40 (0028.jp2)
  20. 4.5 順序回路の故障追跡 / p44 (0030.jp2)
  21. 4.6 双方向バス配線での故障追跡 / p47 (0031.jp2)
  22. 4.7 アルゴリズムの詳細 / p49 (0032.jp2)
  23. 4.8 評価 / p61 (0038.jp2)
  24. 4.9 むすび / p79 (0047.jp2)
  25. 第5章 自動故障追跡システムの構築 / p80 (0048.jp2)
  26. 5.1 まえがき / p80 (0048.jp2)
  27. 5.2 ハードウェア構成 / p80 (0048.jp2)
  28. 5.3 ソフトウェア構成 / p81 (0048.jp2)
  29. 5.4 システム性能 / p85 (0050.jp2)
  30. 5.5 応用 / p85 (0050.jp2)
  31. 5.6 むすび / p91 (0053.jp2)
  32. 第6章 結論 / p93 (0054.jp2)
  33. 謝辞 / p96 (0056.jp2)
  34. 参考文献 / p98 (0057.jp2)
2アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000153477
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000001087528
  • DOI(NDL)
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000000317791
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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