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GTOを用いた系統連系用パワーコンディショナの実用化の研究

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著者

    • 関, 長隆 セキ, ナガタカ

書誌事項

タイトル

GTOを用いた系統連系用パワーコンディショナの実用化の研究

著者名

関, 長隆

著者別名

セキ, ナガタカ

学位授与大学

東京工業大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

乙第3010号

学位授与年月日

1997-02-28

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 論文目録 / (0002.jp2)
  2. 目次 / p1 (0004.jp2)
  3. 1 緒論 / p1 (0006.jp2)
  4. 1.1 まえがき / p1 (0006.jp2)
  5. 1.2 研究の背景 / p2 (0007.jp2)
  6. 1.3 本研究の目的と各章の構成 / p4 (0009.jp2)
  7. 参考文献 / p7 (0012.jp2)
  8. 2 高信頼性・小型・低損失GTOゲート回路の開発 / p9 (0014.jp2)
  9. 2.1 まえがき / p9 (0014.jp2)
  10. 2.2 ゲート回路の必要事項 / p9 (0014.jp2)
  11. 2.3 従来のゲート回路とその問題点 / p12 (0017.jp2)
  12. 2.4 新しいゲート回路 / p15 (0020.jp2)
  13. 2.5 実験結果 / p18 (0023.jp2)
  14. 2.6 拡張性 / p19 (0024.jp2)
  15. 2.7 まとめ / p19 (0024.jp2)
  16. 参考文献 / p21 (0026.jp2)
  17. 3 小規模試験設備による大容量自励変換装置の試験方法開発 / p34 (0039.jp2)
  18. 3.1 まえがき / p34 (0039.jp2)
  19. 3.2 試験項目と従来方法の問題点 / p35 (0040.jp2)
  20. 3.3 提案する試験方法 / p37 (0042.jp2)
  21. 3.4 検証対象のシステムと設計値 / p40 (0045.jp2)
  22. 3.5 試験結果と考察 / p42 (0047.jp2)
  23. 3.6 他の方式との比較 / p43 (0048.jp2)
  24. 3.7 まとめ / p44 (0049.jp2)
  25. 参考文献 / p46 (0051.jp2)
  26. 付録1 バルブデバイス損失 / p47 (0052.jp2)
  27. 付録2 スナバ損 / p49 (0054.jp2)
  28. 4 無効電力調整装置における電力変換システムの最適化の考察 / p61 (0066.jp2)
  29. 4.1 まえがき / p61 (0066.jp2)
  30. 4.2 比較対象と評価項目 / p62 (0067.jp2)
  31. 4.3 波形歪 / p63 (0068.jp2)
  32. 4.4 損失 / p64 (0069.jp2)
  33. 4.5 素子利用率 / p65 (0070.jp2)
  34. 4.6 制御性能 / p66 (0071.jp2)
  35. 4.7 信頼性 / p67 (0072.jp2)
  36. 4.8 考察 / p68 (0073.jp2)
  37. 4.9 まとめ / p71 (0076.jp2)
  38. 参考文献 / p73 (0078.jp2)
  39. 5 太陽光発電システム用高効率パワーコンディショナの開発 / p85 (0090.jp2)
  40. 5.1 まえがき / p85 (0090.jp2)
  41. 5.2 システムの概要と技術課題 / p86 (0091.jp2)
  42. 5.3 主回路システムと各部の設計 / p88 (0093.jp2)
  43. 5.4 制御・保護シーケンス設計 / p92 (0097.jp2)
  44. 5.5 試験結果と考察 / p96 (0101.jp2)
  45. 5.6 まとめ / p97 (0102.jp2)
  46. 参考文献 / p98 (0103.jp2)
  47. 6 燃料電池システム用大容量パワーコンディショナの開発 / p110 (0115.jp2)
  48. 6.1 まえがき / p110 (0115.jp2)
  49. 6.2 パワーコンディショナシステムの概要と技術課題 / p110 (0115.jp2)
  50. 6.3 パワーコンディショナ主回路構成 / p111 (0116.jp2)
  51. 6.4 制御システムの設計 / p114 (0119.jp2)
  52. 6.5 試験結果、 / p117 (0122.jp2)
  53. 6.6 試験途上の問題と対策 / p118 (0123.jp2)
  54. 6.7 まとめ / p122 (0127.jp2)
  55. 参考文献 / p124 (0129.jp2)
  56. 7 結論 / p139 (0144.jp2)
  57. 7.1 第2章 / p139 (0144.jp2)
  58. 7.2 第3章 / p140 (0145.jp2)
  59. 7.3 第4章 / p141 (0146.jp2)
  60. 7.4 第5章 / p142 (0147.jp2)
  61. 7.5 第6章 / p142 (0147.jp2)
  62. 7.6 あとがき / p143 (0148.jp2)
  63. 謝辞 / p144 (0149.jp2)
3アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000153880
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000001092894
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000318194
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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