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地中配電用高分子絶縁材料の長期信頼性と劣化診断に与える水分の影響・効果に関する研究

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著者

    • 熊澤, 孝夫 クマザワ, タカオ

書誌事項

タイトル

地中配電用高分子絶縁材料の長期信頼性と劣化診断に与える水分の影響・効果に関する研究

著者名

熊澤, 孝夫

著者別名

クマザワ, タカオ

学位授与大学

岐阜大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第28号

学位授与年月日

1995-03-24

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 論文目録 / (0001.jp2)
  2. 目次 / (0004.jp2)
  3. 第1編 水トリー劣化CVケーブルの直流成分電流発生機構に関する実験的考察 / p1 (0006.jp2)
  4. 第1章 序論 / p1 (0006.jp2)
  5. 1.1 CVケーブルと水トリー劣化 / p1 (0006.jp2)
  6. 1.2 CVケーブルの劣化診断 / p5 (0008.jp2)
  7. 1.3 直流成分電流の発生に関する従来のモデル / p6 (0009.jp2)
  8. 1.4 研究の背景と目的 / p8 (0010.jp2)
  9. 1.5 本論文の概要 / p9 (0010.jp2)
  10. 参考文献 / p11 (0011.jp2)
  11. 第2章 模擬貫通水トリーにおける直流成分雷流の発生 / p13 (0012.jp2)
  12. 2.1 はじめに / p13 (0012.jp2)
  13. 2.2 実験方法 / p13 (0012.jp2)
  14. 2.3 実験結果 / p15 (0013.jp2)
  15. 2.4 考察 / p21 (0016.jp2)
  16. 2.5 まとめ / p25 (0018.jp2)
  17. 参考文献 / p25 (0018.jp2)
  18. 第3章 直流成分電流の発生に及ぼす半導電層の吸水の影響 / p27 (0019.jp2)
  19. 3.1 はじめに / p27 (0019.jp2)
  20. 3.2 実験方法 / p27 (0019.jp2)
  21. 3.3 実験結果 / p29 (0020.jp2)
  22. 3.4 考察 / p29 (0020.jp2)
  23. 3.5 まとめ / p38 (0025.jp2)
  24. 参考文献 / p41 (0026.jp2)
  25. 第4章 水-銅酸化物の界面モデルによる直流成分電流の発生 / p42 (0027.jp2)
  26. 4.1 はじめに / p42 (0027.jp2)
  27. 4.2 実験方法 / p42 (0027.jp2)
  28. 4.3 実験結果 / p43 (0028.jp2)
  29. 4.4 考察 / p48 (0030.jp2)
  30. 4.5 まとめ / p53 (0033.jp2)
  31. 参考文献 / p55 (0034.jp2)
  32. 第5章 直流成分電流の発生機構と活線劣化診断 / p56 (0034.jp2)
  33. 5.1 はじめに / p56 (0034.jp2)
  34. 5.2 直流成分電流の発生モデル / p56 (0034.jp2)
  35. 5.3 直流成分電流の発生条件 / p59 (0036.jp2)
  36. 5.4 活線劣化診断への適用 / p62 (0037.jp2)
  37. 5.5 まとめ / p64 (0038.jp2)
  38. 参考文献 / p65 (0039.jp2)
  39. 第6章 総括 / p67 (0040.jp2)
  40. 6.1 本研究により得られた知見 / p67 (0040.jp2)
  41. 6.2 本研究の工学的意義 / p69 (0041.jp2)
  42. 6.3 今後の課題と展望 / p70 (0042.jp2)
  43. 第2編 電気絶縁用エポキシ樹脂の吸水劣化特性とその評価 / p71 (0042.jp2)
  44. 第1章 序論 / p71 (0042.jp2)
  45. 1.1 地中配電用機器における固体絶縁材料 / p71 (0042.jp2)
  46. 1.2 基本劣化モード / p74 (0044.jp2)
  47. 1.3 研究の背景と目的 / p76 (0045.jp2)
  48. 1.4 本論文の概要 / p78 (0046.jp2)
  49. 参考文献 / p80 (0047.jp2)
  50. 第2章 環境加速劣化 / p82 (0048.jp2)
  51. 2.1 はじめに / p82 (0048.jp2)
  52. 2.2 試料 / p82 (0048.jp2)
  53. 2.3 加速劣化条件 / p84 (0049.jp2)
  54. 2.4 まとめ / p85 (0050.jp2)
  55. 参考文献 / p85 (0050.jp2)
  56. 第3章 吸水による絶縁破壊強度と引張強度の変化 / p86 (0050.jp2)
  57. 3.1 はじめに / p86 (0050.jp2)
  58. 3.2 実験方法 / p86 (0050.jp2)
  59. 3.3 実験結果 / p87 (0051.jp2)
  60. 3.4 考察 / p98 (0056.jp2)
  61. 3.5 まとめ / p101 (0058.jp2)
  62. 参考文献 / p101 (0058.jp2)
  63. 第4章 吸水による物理的・化学的構造変化 / p103 (0059.jp2)
  64. 4.1 はじめに / p103 (0059.jp2)
  65. 4.2 表面および内部構造変化の観察 / p103 (0059.jp2)
  66. 4.3 化学的構造変化の観察 / p114 (0065.jp2)
  67. 4.4 考察 / p122 (0069.jp2)
  68. 4.5 まとめ / p131 (0073.jp2)
  69. 参考文献 / p132 (0074.jp2)
  70. 第5章 直流および交流破壊特性に及ぼす吸水の影響 / p134 (0075.jp2)
  71. 5.1 はじめに / p134 (0075.jp2)
  72. 5.2 実験方法 / p134 (0075.jp2)
  73. 5.3 実験結果 / p135 (0076.jp2)
  74. 5.4 考察 / p138 (0077.jp2)
  75. 5.5 まとめ / p143 (0080.jp2)
  76. 参考文献 / p144 (0080.jp2)
  77. 第6章 総括 / p145 (0081.jp2)
  78. 6.1 本研究により得られた知見 / p145 (0081.jp2)
  79. 6.2 本研究の工学的意義 / p147 (0082.jp2)
  80. 6.3 今後の課題と展望 / p148 (0083.jp2)
  81. 謝辞 / p150 (0084.jp2)
  82. 研究業績 / p151 (0085.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000154557
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000001093546
  • DOI(NDL)
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000000318871
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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