Experimental method of the static magnetization measurement below 100 mK and its application to strongly correlated f-electron systems 100mK以下の静的磁化測定技術と強相関f電子系への適用

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著者

    • 田山, 孝 タヤマ, タカシ

書誌事項

タイトル

Experimental method of the static magnetization measurement below 100 mK and its application to strongly correlated f-electron systems

タイトル別名

100mK以下の静的磁化測定技術と強相関f電子系への適用

著者名

田山, 孝

著者別名

タヤマ, タカシ

学位授与大学

北海道大学

取得学位

博士 (理学)

学位授与番号

甲第4281号

学位授与年月日

1998-03-25

注記・抄録

博士論文

資料形態 : テキストデータ プレーンテキスト

コレクション : 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 博士論文

目次

  1. Contents
  2. Preface
  3. I Experimental Method of the Static Magnetization Measurement below 100 mK
  4. 1 Very Low Temperature Magnetization Measurement System
  5. 1.1 Principle of the measurement
  6. 1.2 Magnetic characteristics
  7. 1.3 Design and performance of the load cell
  8. 1.4 Installation to refrigerators
  9. II Applications to Strongly Correlated ƒ-electron Systems
  10. 2 Absence of a First-Order Metamagnetic Transition in CeRu₂Si₂
  11. 2.1 Introduction
  12. 2.2 Experimental procedure
  13. 2.3 Results and discussion
  14. 3 Spin-Glass Ordering of the Valence Fluctuation Compound Sm₃Te₄
  15. 3.1 Introduction
  16. 3.2 Experimental procedure
  17. 3.3 Results and discussion
  18. 4 Magnetic Phase Diagrams of CeχLa₁₋χB₆(χ=1,0.75,0.7,and 0.5)
  19. 4.1 Introduction
  20. 4.2 Experimental procedure
  21. 4.3 Results and discussion
  22. 5 Antiferro-Quadrupolar Phase of PrPb₃ with Γ₃ Ground State
  23. 5.1 Introduction
  24. 5.2 Experimental procedure
  25. 5.3 Results and discussion
  26. 5.4 Conclusion
  27. Summary
  28. A Low Temperature Magnetization of CeB₆
  29. B Reference Figure for CeB₆
  30. C Reference Figure for PrPb₃
  31. Publication List
3アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500002072362
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000002636404
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000322188
  • データ提供元
    • NDL ONLINE
    • NDLデジタルコレクション

書き出し

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