Mechanism of temperature-and field-induced valence transition of ThCr[2]Si[2] type Eu compounds ThCr[2]Si[2]型ユーロピウム化合物の温度及び磁場誘起価数転移機構の解明

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著者

    • 光田, 暁弘 ミツダ, アキヒロ

書誌事項

タイトル

Mechanism of temperature-and field-induced valence transition of ThCr[2]Si[2] type Eu compounds

タイトル別名

ThCr[2]Si[2]型ユーロピウム化合物の温度及び磁場誘起価数転移機構の解明

著者名

光田, 暁弘

著者別名

ミツダ, アキヒロ

学位授与大学

京都大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第7839号

学位授与年月日

1999-03-23

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 論文目録 / (0001.jp2)
  2. Contents / p1 (0005.jp2)
  3. 1 Introduction / p1 (0006.jp2)
  4. 1.1 Magnetism of 3d and 4f metallic compounds / p1 (0006.jp2)
  5. 1.2 Rare-earth compounds with unstable electrons / p2 (0007.jp2)
  6. 1.3 EuPd₂Si₂ and EuNi₂(Si₁₋yGey)₂ systems / p7 (0009.jp2)
  7. 1.4 Purpose of this thesis / p19 (0015.jp2)
  8. 2 Experimental and analytical procedure / p21 (0016.jp2)
  9. 2.1 Sample preparation / p21 (0016.jp2)
  10. 2.2 Magnetic susceptibility / p22 (0017.jp2)
  11. 2.3 High-field magnetization process / p22 (0017.jp2)
  12. 2.4 Thermal expansion / p22 (0017.jp2)
  13. 2.5 Volume magnetostriction / p23 (0017.jp2)
  14. 2.6 X-ray absorption spectroscopy / p24 (0018.jp2)
  15. 2.7 Mössbauer effect / p24 (0018.jp2)
  16. 2.8 Electrical resistivity / p24 (0018.jp2)
  17. 3 Experimental results of EuPd₂Si₂-based compounds / p27 (0019.jp2)
  18. 3.1 Lattice parameters / p27 (0019.jp2)
  19. 3.2 Magnetic susceptibility / p28 (0020.jp2)
  20. 3.3 High-field magnetization process / p34 (0023.jp2)
  21. 3.4 X-ray absorption spectroscopy / p39 (0025.jp2)
  22. 3.5 ¹⁵¹Eu Mössbauer effect / p41 (0026.jp2)
  23. 3.6 Temperature evolution of x-ray diffraction pattern / p49 (0030.jp2)
  24. 3.7 Conclusion / p50 (0031.jp2)
  25. 4 Experimental results of EuNi₂(Si₁₋yGey)₂ / p53 (0032.jp2)
  26. 4.1 Lattice parameters / p53 (0032.jp2)
  27. 4.2 Magnetic susceptibility / p53 (0032.jp2)
  28. 4.3 High-field magnetization process / p56 (0034.jp2)
  29. 4.4 X-ray absorption spectroscopy / p59 (0035.jp2)
  30. 4.5 Thermal expansion / p61 (0036.jp2)
  31. 4.6 Volume magnetostriction / p65 (0038.jp2)
  32. 4.7 Electrical resistivity / p67 (0039.jp2)
  33. 4.8 Conclusion / p68 (0040.jp2)
  34. 5 Discussion / p71 (0041.jp2)
  35. 5.1 Characteristics of each valence fluctuating Eu system / p72 (0042.jp2)
  36. 5.2 Simulations of valence fluctuations by ICF model / p77 (0044.jp2)
  37. 5.3 Electrical resistivity / p84 (0048.jp2)
  38. 5.4 Volume magnetostriction / p87 (0049.jp2)
  39. 5.5 Conclusion / p89 (0050.jp2)
  40. References / p91 (0051.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000170400
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000170674
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000334714
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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