超微細CMOS論理ゲートの性能評価手法に関する研究

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著者

    • 平田, 昭夫 ヒラタ, アキオ

書誌事項

タイトル

超微細CMOS論理ゲートの性能評価手法に関する研究

著者名

平田, 昭夫

著者別名

ヒラタ, アキオ

学位授与大学

京都大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第7846号

学位授与年月日

1999-03-23

注記・抄録

博士論文

新制・課程博士

甲第7846号

工博第1826号

目次

  1. 論文目録 / p1 (0001.jp2)
  2. 目次 / p1 (0005.jp2)
  3. 1 序論 / p3 (0006.jp2)
  4. 1.1 まえがき / p3 (0006.jp2)
  5. 1.2 VLSIにおけるタイミング検証 / p4 (0007.jp2)
  6. 2 CMOSインバータ回路における貫通電流による消費電力と伝搬遅延時間の見積もり / p7 (0008.jp2)
  7. 2.1 はじめに / p7 (0008.jp2)
  8. 2.2 CMOS回路の消費電力 / p7 (0008.jp2)
  9. 2.3 貫通電流による消費電力の導出 / p8 (0009.jp2)
  10. 2.4 貫通電流による消費電力のSPICEによる測定法 / p13 (0011.jp2)
  11. 2.5 遅延時間の導出 / p14 (0012.jp2)
  12. 2.6 CMOSインバータ回路の解析 / p16 (0013.jp2)
  13. 2.7 実験と結論 / p18 (0014.jp2)
  14. 2.8 まとめ / p20 (0015.jp2)
  15. 2.9 付録:CMOSインバータ回路の貫通電流による消費電力の解析式 / p24 (0017.jp2)
  16. 3 CRCπ型負荷を駆動するCMOSインバータ回路における出力波形および貫通電流による消費電力の解析式 / p25 (0017.jp2)
  17. 3.1 はじめに / p25 (0017.jp2)
  18. 3.2 出力波形の解析 / p26 (0018.jp2)
  19. 3.3 評価 / p34 (0022.jp2)
  20. 3.4 まとめ / p35 (0022.jp2)
  21. 3.5 付録:貫通電流による消費電力の解析式 / p40 (0025.jp2)
  22. 4 抵抗分を含む負荷を駆動するCMOS論理回路のゲート遅延時間計算手法 / p41 (0025.jp2)
  23. 4.1 はじめに / p41 (0025.jp2)
  24. 4.2 CMOSセルの等価インバータへの置き換え / p42 (0026.jp2)
  25. 4.3 DFFへの適用法 / p49 (0029.jp2)
  26. 4.4 評価 / p50 (0030.jp2)
  27. 4.5 まとめ / p50 (0030.jp2)
  28. 5 スタンダードセルライブラリ自動生成システムP2Lib / p55 (0032.jp2)
  29. 5.1 はじめに / p55 (0032.jp2)
  30. 5.2 課題への取り組み方 / p58 (0034.jp2)
  31. 5.3 P2Libの構想 / p59 (0034.jp2)
  32. 5.4 P2Libの実現 / p60 (0035.jp2)
  33. 5.5 レイアウト情報生成機構 / p60 (0035.jp2)
  34. 5.6 遅延/消費電力情報生成機構 / p63 (0036.jp2)
  35. 5.7 ライブラリのCADへの実装 / p65 (0037.jp2)
  36. 5.8 P2Lib利用例 / p67 (0038.jp2)
  37. 5.9 まとめ / p67 (0038.jp2)
  38. 6 設計最適化への適用 / p69 (0039.jp2)
  39. 6.1 はじめに / p69 (0039.jp2)
  40. 6.2 従来のASIC設計手法の問題点と新しい設計手法 / p69 (0039.jp2)
  41. 6.3 SUSPENSモデル概説 / p70 (0040.jp2)
  42. 6.4 ライブラリの性能を考慮した性能予測モデル / p74 (0042.jp2)
  43. 6.5 導出 / p76 (0043.jp2)
  44. 6.6 最大パス遅延,チップ消費電力の計算 / p79 (0044.jp2)
  45. 6.7 評価実験 / p80 (0045.jp2)
  46. 6.8 設計実験および考察 / p80 (0045.jp2)
  47. 6.9 まとめ / p84 (0047.jp2)
  48. 7 結論 / p85 (0047.jp2)
  49. 8 謝辞 / p93 (0051.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000170407
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000170681
  • DOI(NDL)
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000000334721
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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