MOSFETのパラメータ抽出と統計的モデル化に関する研究

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著者

    • 近藤, 正樹 コンドウ, マサキ

書誌事項

タイトル

MOSFETのパラメータ抽出と統計的モデル化に関する研究

著者名

近藤, 正樹

著者別名

コンドウ, マサキ

学位授与大学

京都大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第7847号

学位授与年月日

1999-03-23

注記・抄録

博士論文

新制・課程博士

甲第7847号

工博第1827号

目次

  1. 論文目録 / (0001.jp2)
  2. 目次 / p1 (0004.jp2)
  3. 1 序論 / p1 (0006.jp2)
  4. 1.1 まえがき / p1 (0006.jp2)
  5. 1.2 MOSFETの動作原理とモデル / p3 (0007.jp2)
  6. 1.3 研究の概要と本論文の構成 / p11 (0011.jp2)
  7. 2 パラメータ抽出手法 / p13 (0012.jp2)
  8. 2.1 まえがき / p13 (0012.jp2)
  9. 2.2 MOSFETモデルのパラメータ抽出に関する問題点 / p14 (0013.jp2)
  10. 2.3 提案手法の概略 / p17 (0014.jp2)
  11. 2.4 中間モデルの方程式とパラメータ / p19 (0015.jp2)
  12. 2.5 モデルパラメータの計算手順 / p23 (0017.jp2)
  13. 2.6 実験 / p34 (0023.jp2)
  14. 2.7 むすび / p50 (0031.jp2)
  15. 3 統計的モデル化手法 / p51 (0031.jp2)
  16. 3.1 まえがき / p51 (0031.jp2)
  17. 3.2 背景と従来研究の動向 / p52 (0032.jp2)
  18. 3.3 提案手法の概略 / p56 (0034.jp2)
  19. 3.4 中間モデルの方程式とパラメータ / p60 (0036.jp2)
  20. 3.5 着目する物理量 / p63 (0037.jp2)
  21. 3.6 統計モデルの構築方法 / p65 (0038.jp2)
  22. 3.7 ワーストケースパラメータの抽出方法 / p72 (0042.jp2)
  23. 3.8 実験 / p75 (0043.jp2)
  24. 3.9 むすび / p86 (0049.jp2)
  25. 4 CADシステムと応用例 / p89 (0050.jp2)
  26. 4.1 まえがき / p89 (0050.jp2)
  27. 4.2 提案手法のGUIDEへの実装 / p90 (0051.jp2)
  28. 4.3 GUIDEによるパラメータ抽出 / p91 (0051.jp2)
  29. 4.4 回路設計への応用例 / p93 (0052.jp2)
  30. 4.5 むすび / p101 (0056.jp2)
  31. 5 結論 / p103 (0057.jp2)
  32. 謝辞 / p107 (0059.jp2)
  33. 参考文献 / p109 (0060.jp2)
  34. 本研究に関する発表 / p113 (0062.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000170408
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000170682
  • DOI(NDL)
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000000334722
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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