【12/14(木)17時より】CiNiiの常時SSL化(HTTPS接続)について

A study on microwave nondestructive evaluation of delamination in IC package マイクロ波による電子パッケージ内のはく離の非破壊評価に関する研究

この論文をさがす

著者

    • 巨, 陽 キョ, ヨウ

書誌事項

タイトル

A study on microwave nondestructive evaluation of delamination in IC package

タイトル別名

マイクロ波による電子パッケージ内のはく離の非破壊評価に関する研究

著者名

巨, 陽

著者別名

キョ, ヨウ

学位授与大学

東北大学

取得学位

博士(工学)

学位授与番号

甲第6847号

学位授与年月日

1999-03-25

注記・抄録

博士論文

課程

目次

  1. CONTENTS / (0004.jp2)
  2. 1 INTRODUCTION / p1 (0007.jp2)
  3. 1.1 Reliability of IC Package / p1 (0007.jp2)
  4. 1.2 Delamination in IC Package / p2 (0008.jp2)
  5. 1.3 Conventional Nondestructive Evaluation Techniques / p2 (0008.jp2)
  6. 1.4 Microwave Nondestructive Evaluation Technique / p10 (0016.jp2)
  7. 1.5 Summary / p17 (0023.jp2)
  8. References / p20 (0026.jp2)
  9. 2 FUNDAMENTAL EXPERIMENT / p24 (0030.jp2)
  10. 2.1 Introduction / p24 (0030.jp2)
  11. 2.2 Coaxial Line Sensor / p25 (0031.jp2)
  12. 2.3 Experimental Procedure / p29 (0035.jp2)
  13. 2.4 Results and Discussion / p31 (0037.jp2)
  14. 2.5 Conclusions / p39 (0045.jp2)
  15. References / p41 (0047.jp2)
  16. 3 EVALUATION OF DELAMINATION BASED ON MAGNITUDE MEASUREMENT / p43 (0049.jp2)
  17. 3.1 Introduction / p43 (0049.jp2)
  18. 3.2 Approach / p44 (0050.jp2)
  19. 3.3 Experimental Procedure / p45 (0051.jp2)
  20. 3.4 Results and Discussion / p48 (0054.jp2)
  21. 3.5 Conclusions / p59 (0065.jp2)
  22. References / p59 (0065.jp2)
  23. 4 EVALUATION OF DELAMINATION BASED ON PHASE MEASUREMENT / p61 (0067.jp2)
  24. 4.1 Introduction / p61 (0067.jp2)
  25. 4.2 Approach / p62 (0068.jp2)
  26. 4.3 Experimental Procedure / p62 (0068.jp2)
  27. 4.4 Results and Discussion / p64 (0070.jp2)
  28. 4.5 Conclusions / p81 (0087.jp2)
  29. Reference / p81 (0087.jp2)
  30. 5 THEORETICAL CONSIDERATIONS / p84 (0090.jp2)
  31. 5.1 Introduction / p84 (0090.jp2)
  32. 5.2 Theoretical Model / p84 (0090.jp2)
  33. 5.3 Evaluation / p91 (0097.jp2)
  34. 5.4 Comparison with Experimental Results / p92 (0098.jp2)
  35. 5.5 Conclusions / p92 (0098.jp2)
  36. References / p97 (0103.jp2)
  37. 6 MICROWAVE IMAGING / p98 (0104.jp2)
  38. 6.1 Introduction / p98 (0104.jp2)
  39. 6.2 Imaging System and Sample Description / p98 (0104.jp2)
  40. 6.3 Measured Results and Discussion / p99 (0105.jp2)
  41. 6.4 Conclusions / p103 (0109.jp2)
  42. References / p107 (0113.jp2)
  43. 7 CONCLUSIONS / p108 (0114.jp2)
  44. ACKNOWLEDGMENTS / p111 (0117.jp2)
1アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000170866
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000171140
  • DOI(NDL)
  • 本文言語コード
    • eng
  • NDL書誌ID
    • 000000335180
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
ページトップへ