【12/14(木)17時より】CiNiiの常時SSL化(HTTPS接続)について

フォトリフラクティブダイナミックホログラムを用いた新しいレーザ干渉計測に関する研究

この論文をさがす

著者

    • 白鳥, 明 シラトリ, アキラ

書誌事項

タイトル

フォトリフラクティブダイナミックホログラムを用いた新しいレーザ干渉計測に関する研究

著者名

白鳥, 明

著者別名

シラトリ, アキラ

学位授与大学

慶応義塾大学

取得学位

博士(工学)

学位授与番号

甲第1680号

学位授与年月日

1999-03-23

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 論文目録 / (0001.jp2)
  2. 目次 / p3 (0007.jp2)
  3. 第1章 序論 / p1 (0010.jp2)
  4. 1.1 フォトリフラクティブ材料 / p2 (0011.jp2)
  5. 1.2 最近のフォトリフラクティブ材料の開発状況とその応用 / p4 (0013.jp2)
  6. 1.3 フォトリフラクティブ材料のレーザ干渉計測への応用 / p10 (0019.jp2)
  7. 1.4 本研究の目的と意義 / p12 (0021.jp2)
  8. 参考文献、図表 / p14 (0023.jp2)
  9. 第2章 フォトリフラクティブ屈折率変化とその観測 / p31 (0040.jp2)
  10. 2.1 はじめに / p32 (0041.jp2)
  11. 2.2 フォトリフラクティブ効果の理論 / p32 (0041.jp2)
  12. 2.3 マッハ・ツェンダー干渉法によるフォトリフラクティブ屈折率変化の可視化 / p37 (0046.jp2)
  13. 2.4 フォトリフラクティブ2次元導波路の時間的・空間的観測 / p42 (0051.jp2)
  14. 2.5 まとめ / p44 (0053.jp2)
  15. 参考文献、図表 / p46 (0055.jp2)
  16. 第3章 フォトリフラクティブ位相共役AlGaInP半導体レーザの開発 / p63 (0072.jp2)
  17. 3.1 はじめに / p64 (0073.jp2)
  18. 3.2 光位相共役 / p64 (0073.jp2)
  19. 3.3 半導体レーザのバンド幅狭窄化 / p67 (0076.jp2)
  20. 3.4 位相共役共振器の理論 / p72 (0081.jp2)
  21. 3.5 実験装置 / p74 (0083.jp2)
  22. 3.6 実験結果および考察 / p75 (0084.jp2)
  23. 3.7 まとめ / p79 (0088.jp2)
  24. 参考文献、図表 / p81 (0090.jp2)
  25. 第4章 多重体積ホログラムを利用した加工物表面構造の高分解能計測 / p110 (0119.jp2)
  26. 4.1 はじめに / p111 (0120.jp2)
  27. 4.2 フォトリフラクティブホログラフィック光メモリの現状 / p111 (0120.jp2)
  28. 4.3 実験および結果 / p113 (0122.jp2)
  29. 4.4 まとめ / p117 (0126.jp2)
  30. 参考文献、図表 / p118 (0127.jp2)
  31. 第5章 フォトリフラクティブコヒーレンスゲーティングを用いたレーザ干渉計測 / p129 (0138.jp2)
  32. 5.1 はじめに / p130 (0139.jp2)
  33. 5.2 生体内イメージングにおける散乱光ノイズの除去技術 / p130 (0139.jp2)
  34. 5.3 フォトリフラクティブ2光波混合 / p132 (0141.jp2)
  35. 5.4 実験 / p134 (0143.jp2)
  36. 5.5 考察 / p139 (0148.jp2)
  37. 5.6 まとめ / p142 (0151.jp2)
  38. 参考文献、図表 / p144 (0153.jp2)
  39. 第6章 結論 / p162 (0171.jp2)
  40. 6.1 はじめに / p163 (0172.jp2)
  41. 6.2 フォトリフラクティブ屈折率変化とその観測(第2章) / p164 (0173.jp2)
  42. 6.3 フォトリフラクティブ位相共役AlGaInP半導体レーザの開発(第3章) / p165 (0174.jp2)
  43. 6.4 多重体積ホログラムを利用した加工物表面構造の高分解能計測(第4章) / p165 (0174.jp2)
  44. 6.5 フォトリフラクティブコヒーレンスゲーティングを用いたレーザ干渉計測(第5章) / p166 (0175.jp2)
  45. 6.6 総括 / p167 (0176.jp2)
  46. 謝辞 / (0178.jp2)
  47. 著者論文目録 / (0179.jp2)
0アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000171407
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000171681
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000335721
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
ページトップへ