スピン分析器の応用に関する基礎研究

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著者

    • 倉岡, 義孝 クラオカ, ヨシタカ

書誌事項

タイトル

スピン分析器の応用に関する基礎研究

著者名

倉岡, 義孝

著者別名

クラオカ, ヨシタカ

学位授与大学

北海道大学

取得学位

博士(工学)

学位授与番号

甲第4757号

学位授与年月日

1999-03-25

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / (0003.jp2)
  2. 1.序論 / p1 (0006.jp2)
  3. 2.電子スピンとMott散乱理論 / p6 (0011.jp2)
  4. 2.1 電子スピン / p6 (0011.jp2)
  5. 2.2 Mott散乱とSherman関数 / p15 (0020.jp2)
  6. 3.小型スピン偏極電子線分析器の開発 / p22 (0027.jp2)
  7. 3.1 小型Mott分析器設計 / p28 (0033.jp2)
  8. 3.2 静電レンズ系の設計 / p43 (0048.jp2)
  9. 3.3 阻止電極 / p51 (0056.jp2)
  10. 3.4 動作試験 / p54 (0059.jp2)
  11. 3.5 本章のまとめ / p70 (0075.jp2)
  12. 4.NEA-GaAs電子線のスピン偏極度測定 / p71 (0076.jp2)
  13. 4.1 GaAs型スピン偏極光励起電子の原理 / p72 (0077.jp2)
  14. 4.2 スピン偏極電子銃の製作 / p75 (0080.jp2)
  15. 4.3 GaAsウェハの表面処理 / p80 (0085.jp2)
  16. 4.4 NEA活性化 / p83 (0088.jp2)
  17. 4.5 スピン偏極度測定 / p91 (0096.jp2)
  18. 4.6 本章のまとめ / p96 (0101.jp2)
  19. 5.小型Mott分析器を応用したスピンSEMの開発 / p97 (0102.jp2)
  20. 5.1 1次電子銃 / p98 (0103.jp2)
  21. 5.2 測定時間を考慮した小型Mott分析器の改良 / p106 (0111.jp2)
  22. 5.3 2次電子コレクタ / p123 (0128.jp2)
  23. 5.4 電子検出回路系 / p127 (0132.jp2)
  24. 5.5 装置構成まとめ / p130 (0135.jp2)
  25. 6.スピンSEMによる磁性体観察 / p135 (0140.jp2)
  26. 6.1 Fe(001)面の観察 / p136 (0141.jp2)
  27. 6.2 磁性記録領域への適用 / p141 (0146.jp2)
  28. 6.3 本章のまとめ / p155 (0160.jp2)
  29. 7.まとめ / p156 (0161.jp2)
  30. 8.謝辞 / p158 (0163.jp2)
  31. Appendix / p160 (0165.jp2)
  32. A.1 小型Mott分析器のシミュレーションリスト / p160 (0165.jp2)
  33. A.2 金薄膜用支持膜の作製について / p166 (0171.jp2)
  34. 参考文献 / p168 (0173.jp2)
2アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000172315
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000172590
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000336629
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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