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排他的論理和を用いた論理回路設計に関する研究

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著者

    • 平山, 貴司 ヒラヤマ, タカシ

書誌事項

タイトル

排他的論理和を用いた論理回路設計に関する研究

著者名

平山, 貴司

著者別名

ヒラヤマ, タカシ

学位授与大学

群馬大学

取得学位

博士(工学)

学位授与番号

工博甲第135号

学位授与年月日

1999-03-23

注記・抄録

博士論文

学位記番号:工博甲135

目次

  1. 目次 / p1 (0002.jp2)
  2. 1 序論 / p1 (0006.jp2)
  3. 1.1 論理設計とスイッチング理論 / p1 (0006.jp2)
  4. 1.2 スイッチング理論の歴史 / p1 (0006.jp2)
  5. 1.3 EXORを用いた論理設計 / p2 (0007.jp2)
  6. 1.4 本論文の構成 / p7 (0009.jp2)
  7. 2 EXORを用いた展開式と諸性質 / p11 (0011.jp2)
  8. 3 AND-EXOR論理式最小化・簡単化アルゴリズム / p17 (0014.jp2)
  9. 3.1 まえがき / p17 (0014.jp2)
  10. 3.2 ESOP簡単化アルゴリズム / p21 (0016.jp2)
  11. 3.3 5変数関数の高速な最小化アルゴリズム / p32 (0022.jp2)
  12. 3.4 対称関数の簡単化アルゴリズム / p34 (0023.jp2)
  13. 3.5 多出力関数の簡単化アルゴリズム / p40 (0026.jp2)
  14. 3.6 本章のまとめ / p55 (0033.jp2)
  15. 4 共通の変数を持つEXOR分解 / p57 (0034.jp2)
  16. 4.1 まえがき / p57 (0034.jp2)
  17. 4.2 共通の変数を持つEXOR分解 / p58 (0035.jp2)
  18. 4.3 共通の変数を持つEXOR分解の一般化 / p61 (0036.jp2)
  19. 4.4 EXOR分解できる関数の個数 / p63 (0037.jp2)
  20. 4.5 分解した関数の共有化 / p64 (0038.jp2)
  21. 4.6 実験結果 / p65 (0038.jp2)
  22. 4.7 本章のまとめ / p69 (0040.jp2)
  23. 5 一線入力OR-AND-EXOR論理式に基づいたテスト容易化設計 / p71 (0041.jp2)
  24. 5.1 まえがき / p71 (0041.jp2)
  25. 5.2 単一縮退故障モデルとEXORを用いたテスト容易化設計の基礎 / p72 (0042.jp2)
  26. 5.3 テスト容易性の多値入力論理への拡張 / p75 (0043.jp2)
  27. 5.4 一線入力OR-AND-EXOR展開 / p78 (0045.jp2)
  28. 5.5 テスト容易化設計 / p82 (0047.jp2)
  29. 5.6 テスト容易な回路に対するテスト / p83 (0047.jp2)
  30. 5.7 本章のまとめ / p89 (0050.jp2)
  31. 6 結論および今後の課題 / p91 (0051.jp2)
  32. 6.1 結論 / p91 (0051.jp2)
  33. 6.2 今後の課題 / p92 (0052.jp2)
  34. 謝辞 / p95 (0053.jp2)
  35. 関連論文および研究発表のリスト / p97 (0054.jp2)
  36. 参考文献 / p99 (0055.jp2)
1アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000173550
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000173826
  • DOI(NDL)
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000000337864
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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