Electronic characterization of SrBi2Ta2O9 thin films in metal-ferroelectric-insulator-semiconductor structures 金属-強誘電体-絶縁体-半導体構造におけるSrBi2Ta2O9薄膜の電子的評価

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著者

    • 高橋, 光恵 タカハシ, ミツエ

書誌事項

タイトル

Electronic characterization of SrBi2Ta2O9 thin films in metal-ferroelectric-insulator-semiconductor structures

タイトル別名

金属-強誘電体-絶縁体-半導体構造におけるSrBi2Ta2O9薄膜の電子的評価

著者名

高橋, 光恵

著者別名

タカハシ, ミツエ

学位授与大学

大阪大学

取得学位

博士 (理学)

学位授与番号

甲第9307号

学位授与年月日

2003-03-25

注記・抄録

博士論文

14401甲第09307号

博士(理学)

大阪大学

2003-03-25

17941

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000231894
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000232416
  • 本文言語コード
    • eng
  • NDL書誌ID
    • 000004138640
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
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