Optical and electrical properties of structural defects in amorphous silicon oxynitride and silicon nitride films 非晶質シリコン酸窒化膜およびシリコン窒化膜における構造欠陥の光学的ならびに電気的物性

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Author

    • 加藤, 宙光 カトウ, ヒロミツ

Bibliographic Information

Title

Optical and electrical properties of structural defects in amorphous silicon oxynitride and silicon nitride films

Other Title

非晶質シリコン酸窒化膜およびシリコン窒化膜における構造欠陥の光学的ならびに電気的物性

Author

加藤, 宙光

Author(Another name)

カトウ, ヒロミツ

University

早稲田大学

Types of degree

博士 (工学)

Grant ID

甲第1750号

Degree year

2003-03-15

Note and Description

博士論文

制度:新 ; 文部省報告番号:甲1750号 ; 学位の種類:博士(工学) ; 授与年月日:2003/3/15 ; 早大学位記番号:新3513

text

8access

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    500000234801
  • NII Author ID (NRID)
    • 8000000235349
  • Text Lang
    • eng
  • NDLBibID
    • 000004204895
  • Source
    • Institutional Repository
    • NDL ONLINE
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