透過型電子顕微鏡法による強相関電子系物質の結晶構造解析 Crystal structure analysis for strongly correlated electron materials by transmission electron microscopy

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著者

    • 長井, 拓郎 ナガイ, タクロウ

書誌事項

タイトル

透過型電子顕微鏡法による強相関電子系物質の結晶構造解析

タイトル別名

Crystal structure analysis for strongly correlated electron materials by transmission electron microscopy

著者名

長井, 拓郎

著者別名

ナガイ, タクロウ

学位授与大学

早稲田大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第1770号

学位授与年月日

2003-03-15

注記・抄録

博士論文

制度:新 ; 文部省報告番号:甲1770号 ; 学位の種類:博士(工学) ; 授与年月日:2003/3/15 ; 早大学位記番号:新3533

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000234821
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000235369
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000004204942
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
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