導電性構造材料のためのSQUIDを用いた非破壊検査技術に関する研究 Study on nondestructive inspection using SQUID for electrically conductive structure materials

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著者

    • 廿日出, 好 ハツカデ, ヨシミ

書誌事項

タイトル

導電性構造材料のためのSQUIDを用いた非破壊検査技術に関する研究

タイトル別名

Study on nondestructive inspection using SQUID for electrically conductive structure materials

著者名

廿日出, 好

著者別名

ハツカデ, ヨシミ

学位授与大学

早稲田大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第1772号

学位授与年月日

2003-03-15

注記・抄録

博士論文

制度:新 ; 文部省報告番号:甲1772号 ; 学位の種類:博士(工学) ; 授与年月日:2003/3/15 ; 早大学位記番号:新3535

6アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000234823
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000235371
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000004204945
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
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